Tessent
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Silicon Insight
Accélérez la mise en place des tests, le débogage et la caractérisation au silicium des appareils contenant des structures de test Tessent ATPG, EDT, BIST et/ou IJTAG dans un environnement interactif automatisé.
Tessent Yield Learning
Réduisez les délais de production, gérez les interruptions de fabrication et récupérez le rendement causé par des défauts systématiques. En comprenant comment gérer et optimiser l'environnement de test et de collecte de données, des solutions d'apprentissage du rendement peuvent être configurées pour identifier les défauts systématiques à l'origine d'un faible rendement, ce qui permet de gagner du temps.
Réduisez la complexité grâce aux solutions Tessent Yield Learning
Dans un contexte de complexité croissante, Tessent Yield Learning conçoit des outils pour réduire la complexité sans compromettre la qualité ou la rentabilité. Nous aidons nos clients à s'adapter à l'évolution de leur environnement tout en réduisant les délais de commercialisation et les coûts.
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Livre blanc
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Multipliez par 10 le débit de diagnostic du volume
Présentation d'une nouvelle technique visant à optimiser le débit du diagnostic. La technologie de partitionnement dynamique de Tessent Diagnosis permet de réduire de 50 % le temps de diagnostic par scan en utilisant seulement 20 % de la mémoire habituelle.
