Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analysiert die Diagnosedaten statistisch, um systematische Ertragsbegrenzer zu identifizieren und zu trennen, bevor eine Fehleranalyse durchgeführt wird. Tessent YieldInsight ist darauf spezialisiert, Ertragsverluste anhand von Scan-Testdaten zu verstehen und zu identifizieren und macht Volumendiagnoseergebnisse umsetzbar.
Warum Tessent YieldInsight?
Mithilfe spezieller Data-Mining- und statistischer Analysetechniken eliminiert Tessent YieldInsight Störungen aus den Diagnosedaten, um die zugrunde liegenden Ursachen zu ermitteln, systematische Ertragsbegrenzer zu identifizieren und die besten Geräte für die Fehleranalyse auszuwählen.
Identifizieren Sie versteckte Ertragsbegrenzer
Tessent YieldInsight identifiziert die Ursache für systematische Ertragsverluste und unterstützt Sie bei der Auswahl der Düsen für die Fehleranalyse.
Rauschen aus den Diagnoseergebnissen entfernen
Die Root Cause Deconvolution (RCD) -Technologie entfernt Störungen aus den Diagnoseergebnissen und ermittelt die zugrunde liegenden Ursachen. Es wählt und filtert Populationen von Fehlschlägen aus und gruppiert die Sterbefälle, die aus ähnlichen Gründen versagen.
Funktioniert mit Tessent Diagnosis
Analysiert die layout- und zellenorientierten Diagnoseergebnisse von Tessent Diagnosis, um systematische Ertragsbegrenzer zu identifizieren und zu trennen, bevor eine Fehleranalyse durchgeführt wird, sodass keine kostspielige physische Lokalisation erforderlich ist.
Eine neuartige umkehrbare Scan-Chain-Technologie
Dieses gemeinsame Webinar zwischen Siemens EDA und Qualcomm wird von ASM International veranstaltet und beleuchtet:
- Motivation für den Einsatz der Kettendiagnose bei Yield Ramp
- Überblick über die Kettendiagnose, umkehrbare Kette
- Umkehrbare Kettentechnologie und Diagnose
- Implementierung von reversiblen Ketten
- Silizium-Ergebnisse vom Testchip
