
Silicon Insight
Beschleunigen Sie die Testbereitstellung, das Debuggen und die Silizium-Charakterisierung von Geräten, die Tessent ATPG-, EDT-, BIST- und/oder IJTAG-Teststrukturen enthalten, in einer automatisierten interaktiven Umgebung.
Angesichts der zunehmenden Komplexität entwickelt Tessent Yield Learning Tools, um die Komplexität zu reduzieren, ohne Abstriche bei Qualität oder Rentabilität zu machen. Wir helfen Kunden dabei, sich an sich ändernde Umgebungen anzupassen und gleichzeitig die Markteinführungszeit zu verkürzen und die Kosten zu senken.

Einführung einer neuen Technik zur Maximierung des Diagnosedurchsatzes. Die dynamische Partitionierungstechnologie in Tessent Diagnosis ermöglicht eine 50-prozentige Verkürzung der Scan-Diagnosezeit, wobei nur 20% des typischen Speichers genutzt werden.