Da Chip-Designs immer größer und komplexer werden, haben traditionelle DRC-Debug-Methoden Schwierigkeiten, Schritt zu halten. Standardansätze, die sich auf ASCII-Ergebnisdatenbanken stützen, können die riesigen Fehlermengen, die bei fortgeschrittenen Knoten- oder Frühphasen-SoC-Designs auftreten, oft nicht effizient verarbeiten. Das führt zu langsamem Laden, unvollständigen Diagnosen und längeren Debug-Zeiträumen, da Techniker unpraktisch große Fehlermengen manuell durchsuchen müssen und ihnen die nötige Anleitung und Transparenz fehlt, um schnell die kritischsten Ursachen zu identifizieren.
Die Calibre Vision AI KI-Software von Siemens EDA bietet eine transformative Lösung für modernes DRC-Debugging auf Chip-Ebene. Durch die Nutzung des hocheffizienten OASIS-Ergebnisformats und der fortschrittlichen KI-gestützten Signalanalyse ermöglicht Calibre Vision AI Teams, Milliarden von DRC-Verstößen in Sekunden zu laden und zu analysieren, zugehörige Fehler intelligent zu gruppieren und Debug-Anstrengungen intuitiv zu priorisieren. Verbesserte Visualisierungs-, Navigations- und Kollaborationstools helfen Designern, Verstöße auf dem gesamten Chip genau zu lokalisieren und zu beheben, wodurch die physischen Überprüfungszyklen selbst für die kompliziertesten Designs drastisch beschleunigt werden.
