Das Calibre xL-Tool bietet Entwicklern eine schnelle und genaue Extraktion der frequenzabhängigen Schleifeninduktivität und des Schleifenwiderstands des gesamten Chips und berücksichtigt automatisch Rückwegänderungen mit der Frequenz. Die Calibre xL xL-Extraktion korreliert stark mit Feldlösern und bietet eine auf Silizium getestete Genauigkeit.
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Steigende Betriebsfrequenzen für Analog-/HF-Designs bedeuten, dass eine parasitäre Extraktion der Verbindungsinduktivität jetzt erforderlich ist, um eine genaue Schaltungsleistung und hohe Zuverlässigkeit zu gewährleisten. Die automatische, auf Feldlösern basierende Induktivitätsextraktion sowohl eigener als auch gegenseitiger parasitärer Störungen ermöglicht es IC-Herstellern, Analog-/HF-Chips zu liefern, die das gewünschte Maß an Leistung und Zuverlässigkeit bieten.
Bei steigenden Betriebsfrequenzen zeigen Verbindungsleitungen induktive Effekte, die sich erheblich auf das Verhalten und die Leistung der Chips auswirken. Die parasitäre Induktivitätsextraktion auf dem Chip ist entscheidend für die genaue Simulation und das zeitnahe Aufzeichnen von Hochfrequenz-HF-, Mischsignal- und kundenspezifischen digitalen Designs.
Vollchip-Extraktion der parasitären Selbstinduktivität. Präzise frequenzabhängige Schleifeninduktivität und Widerstandsextraktion. Effiziente Reduzierung der Modellbestellung. Rückpfadauswahl und netzbasierte Auswahl der Extraktionsfrequenz.
Vollständig integriert mit Calibre LVS, xAct und xRC. Präzise Analyse von Hochfrequenzeffekten in der nm-Technologie. Einfache Re-Simulation ohne Genauigkeitsverlust. Auf Silizium getestete Genauigkeit für analoge, HF- und kundenspezifische digitale Designs.
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Die Calibre-Toolsuite bietet eine genaue, effiziente und umfassende IC-Verifizierung und -Optimierung für alle Prozessknoten und Designstile und minimiert gleichzeitig den Ressourcenverbrauch und die Zeitpläne für das Tapeout.