Tessent Yield Learning
Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight 統計分析診斷資料，以在進行任何故障分析之前，識別並分隔系統性的產量限制器。Tessent YieldInsight 專門用於了解和識別掃描測試資料產生的產量損失，並使體積診斷結果變得可行。
為什麼選擇「泰森特希爾迪辛特」？
Tessent YieldInsight 使用專門的資料挖掘和統計分析技術，消除診斷資料中的雜訊，以確定基本原因、識別系統性產量限制器，並選擇最佳設備進行故障分析。
識別隱藏的收益限制器
Tessent YieldInsight 可識別系統性產量損失的原因，並提供指導選擇模具進行故障分析的過程。
去除診斷結果中的噪音
根本原因解調 (RCD) 技術可從診斷結果中消除雜訊，並確定基礎的根本原因。它會選擇並篩選失敗模具的群體，將因類似原因失敗的模具分組。
適用於 Tessent Diagnosis
分析 Tessent Diagnosis 中的配置感知和細胞感知診斷結果，在進行任何故障分析之前，識別並分離系統性產量限制器，從而消除昂貴的物理定位化的需求。
網路研討會
全新的可逆掃描鏈技術
由 ASM 國際主持，西門子 EDA 與高通聯合網絡研討會聚焦：
- 在產量升降中使用鏈診斷的動機
- 鏈診斷概述，可逆鏈
- 可逆鏈技術和診斷
- 可逆鏈的實施
- 測試晶片的矽結果
