Tessent Yield Learning

縮短產量時間、管理製造偏差，以及回收系統性瑕疵所造成的產量。通過了解如何管理和最佳化測試和數據收集環境，可以設置產量學習解決方案，以識別導致低產量的系統性缺陷，節省時間。

探索技術

應用配置感知和單元感知診斷技術，準確分類和識別在製造測試期間導致故障的缺陷位置。

在自動化互動環境中加速包含 Tessent ATPG、EDT、BIST 和/或 IJTAG 測試結構的裝置進行測試、除錯和矽性分析。

消除診斷資料中的雜訊，以確定基礎原因、識別系統性產量限制器，並選擇最佳裝置進行故障分析。

白皮書

引入最大化診斷輸送量的新技術。Tessent Diagnosis 中的動態分割技術可使掃描診斷時間縮短 50%，使用典型記憶體的 20%。

參加本次網絡研討會，了解 Tessent SiliconInsight 如何解決矽產生的挑戰，從而改善產量提升和上市時間。

西門子和 PDF Solutions 技術人員推出整合、全面的端對端解決方案，其中包括分析、掃描診斷和機器學習。