
使用 Tessent 多模板用於晶片和 3D IC 的 DFT
晶片的 DFT 必須是一般用途,才能獨立測試,並在 2.5D/3D 設備中組裝後易於測試。了解如何使用泰森多模具,並依然遵守 IEEE 1149.1、IEEE 1500 和 IEEE 1838 等標準。
使用 Tessent 多模具,大幅加速並簡化下一代集成電路 (IC) 的關鍵設計 (DFT) 工作,以 2.5D 和 3D 架構為基礎。
Tessent Multi-die 提供全面的 DFT 自動化解決方案,適用於與 2.5D 和 3D IC 設計相關的高度複雜工作,並與 Tessent TestKompress、串流掃描網絡和 IJTAG 軟體無縫合作。
Tessent 多模具使用集成的 Tessent 平台與其他泰森產品無縫整合。
更快速、更簡單的 DFT 使 IC 設計團隊能夠快速生成合規的硬體。符合多維設計的 DFT 技術可以更快地實現測試並優化製造測試成本。
觀看 Tessent 產品經理 Vidya Neerkundar 解釋 Tessent Multi-die 如何為橫向擴展(2.5D 設備)、相互堆疊(3D)或結合兩種配置的設計實現 Tessent Multi-die 如何實現 DFT 的設計,以及無論模具內部或跨模具需要測試什麼邏輯,每個模具的架構都能保持獨立性。

對模具尺寸有生產限制?這些先進的設計已將目前的測試設計解決方案推向極限。在本文中,我們概述了可擴展 DFT 解決方案進入第三維度的途徑,以為這個問題提供負擔得起且全面的答案。


西門子 EDA 的 Tessent 多模具軟件可實現 3D IC 的自動化。下載此資料表以了解有關 Tessent 多模具軟件的更多信息

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