最佳化安全性

使用專利的晶片上壓縮來減少測試數據量並縮短測試時間，以最低的製造測試成本獲得最高質量的確定性掃描測試測試。

透過分離核心級和晶片級 DFT 需求，減少設計測試性 (DFT) 開發時間和製造測試成本。

運用矽智慧財產權 (IP) 和軟體的晶片上系統 (SoC) 的智慧型、功能性監控和分析基礎架構。

為符合 IEEE 1687 IJTAG 的測試和儀器 IP 從各種來源提供自動化和整合到 IC 設計中。

適用於汽車和醫療應用的 IC 等安全關鍵設備的理想邏輯內置自測解決方案，確保符合 ISO26262。

透過直接嵌入小型模組到晶片上系統 (SoC) 中，確保品質、增強安全性、最佳化效能並提高可靠性，讓您可以非侵入式觀察設計中發生的事情。

了解汽車生態系統中越來越多的標準和法規如何透過抵禦網路攻擊來節省開發成本。

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