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在本演講中,英菲尼昂的丹尼爾·蒂爾展示了 LogicBist 與觀測掃描技術的使用,該技術被證明可大幅減少 Infineon 汽車微控制器(MCU)的邏輯內置自測(LBIST)測試時間。



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