確保品質

使用專利的晶片上壓縮來減少測試數據量並縮短測試時間，以最低的製造測試成本獲得最高質量的確定性掃描測試測試。

透過分離核心級和晶片級 DFT 需求，減少設計測試性 (DFT) 開發時間和製造測試成本。

克服傳統 DFT 方法的質量限制。利用我們的汽車級自動測試模式生成 (ATPG)，針對晶體管和互連等級的 IC 中的缺陷。

實現內嵌記憶體的測試、修復、除錯和特性分析的全面自動化和整合。

滿足 IC 對快速成長的汽車電子產品市場的要求，並滿足新市場和技術的需求。

模擬類比、混合信號和非掃描數位電路的晶體級缺陷。通過自動覆蓋評估，符合 ISO26262 等品質標準。

Tessent 產品行銷總監 Lee Harrison 在接受電子周刊採訪時，談論串流掃描網絡（SSN）巴士和下一代測試設計技術。

了解汽車網絡安全和安全趨勢以及行動技術安全的未來。了解西門子 EDA 如何為生態系統中的汽車公司提供明智的選擇。

透過直接嵌入小型模組到晶片上系統 (SoC) 中，確保品質、增強安全性、最佳化效能並提高可靠性，讓您可以非侵入式觀察設計中發生的事情。

了解汽車生態系統中越來越多的標準和法規如何透過抵禦網路攻擊來節省開發成本。