
Tessent Advanced DFT
利用市場領先的邏輯和記憶體測試產品,在強大的測試流程中結合功能,以確保整體晶片覆蓋範圍,解決現今複雜 SoC 和晶片的系統內測試的挑戰。
建立一個讓設計更可測試的基礎架構。矽膠生命週期管理解決方案可實現高質量測試、識別缺陷和隱藏的產量限制器,並從測試之外進入系統除錯和驗證。這個工具生態系統可有效地分析資料,以提供關鍵的系統見解,然後可用於生命中監控。
聆聽 Tessent 矽學習產品管理總監馬克·哈特納(Marc Hutner)解釋 SLM 的未來。他描述了 DFT 如何不再僅僅用於測試,而是成為產品的功能性子系統。他討論了 SLM 如何通過了解完整系統的健康狀況來幫助延長產品的使用壽命。
使用一流的測試設計 (DFT)、除錯和生命監控以及強大的資料分析解決方案,確保最高的測試品質、加快產量提升,並在矽生命週期中提高安全、安全性和可靠性。