Tessent Yield Learning

缩短交货时间，管理制造偏差，恢复系统缺陷造成的产量。通过了解如何管理和优化测试和数据收集环境，可以设置收益率学习解决方案，以识别导致产量低的系统缺陷，从而节省时间。

探索科技

应用布局感知和单元感知诊断技术，对制造测试期间导致故障的缺陷进行准确分类和识别的位置。

在自动交互式环境中加快对包含 Tessent ATPG、EDT、BIST 和/或 IJTAG 测试结构的设备的测试启动、调试和芯片特性分析。

消除诊断数据中的噪声以确定根本原因，确定系统的屈服限制器，并选择最佳设备进行故障分析。

引入一种新技术以最大限度地提高诊断吞吐量。Tessent Diagnostions中的动态分区技术仅使用典型内存的20％即可将扫描诊断时间缩短50％。

参加本次网络研讨会，了解Tessent SiliconInsight如何解决硅生产的挑战，从而缩短产量增长和上市时间。

Siemens 和 PDF Solutions 技术专家推出了一种集成、全面的端到端解决方案，其中包括分析、扫描诊断和机器学习。