Tessent
all
SiliconInsight
Ubrzajte testiranje, otklanjanje grešaka i karakterizaciju silicijuma uređaja koji sadrže Tessent ATPG, EDT, BIST i/ili IJTAG testne strukture u automatizovanom interaktivnom okruženju.
Tessent Yield Learning
Smanjite vreme za prinos, upravljajte proizvodnim izletima i povratite prinos uzrokovan sistematskim nedostacima. Razumevanjem načina upravljanja i optimizacije okruženja za testiranje i prikupljanje podataka, mogu se podesiti rešenja za učenje prinosa kako bi se identifikovali sistematski nedostaci koji uzrokuju nizak prinos, štedeći vreme.
Smanjite složenost pomoću rešenja za Tessent Yield Learning
Sa složenošću u porastu, Tessent Yield Learning dizajnira alate za smanjenje složenosti bez ugrožavanja kvaliteta ili profitabilnosti. Pomažemo kupcima da se prilagode promenljivom okruženju, a istovremeno smanjujemo vreme za stavljanje na tržište i smanjujemo troškove.
Istražite tehnologije
Saznajte više
Bela knjiga
all
Poboljšajte propusnost dijagnoze skeniranja jačine zvuka 10Ks
Uvođenje nove tehnike za maksimiziranje propusnosti dijagnoze. Tehnologija dinamičkog particioniranja u Tessent Diagnosis omogućava smanjenje vremena dijagnoze skeniranja za 50% koristeći samo 20% tipične memorije.
