Pristupite širokom spektru prezentacija koje su na Međunarodnoj testnoj konferenciji (ITC) održali Siemensovi lideri, stručnjaci Tessent, kupci i partneri. Saznajte više o našim vodećim rešenjima u industriji za dizajn za testiranje (DFT), IC test, učenje prinosa i praćenje i analitiku u životu.
Siemens je ponosan što je dijamantski pristalica Međunarodne Test konferencije 2024. Snimke ključnih dijamantskih prezentacija možete pogledati u nastavku.
Ankur Gupta, viši potpredsednik i generalni direktor platforme za kreiranje digitalnog dizajna u Siemens EDA otvara Diamond Event kako bi razgovarao sa publikom ITC-a na temu „Transformativne tehnologije za održivu budućnost“
Anurag Jindal, šef DFKS grupe u Ericssonu predstavlja „Brži i efikasniji tok omogućen integrisanom platformom“
Vishal Agarval, viši direktor kompanije Nvidia razgovara sa publikom ITC 2024 o izazovima testiranja u eri AI
Dan Trock, glavni inženjer Amazon Veb Services, predstavlja „Deterministički test skeniranja u floti u AWS oblaku“
Gledanje prezentacija u pozorištu Tessent tradicija je na izložbenom podu ITC, gde naši kupci i partneri predstavljaju svoja iskustva sa Tessent tehnologijama, referentnim tokovima i projektima saradnje. Pogledajte najnovije prezentacije sa ITC 2024 u nastavku.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unazad i učite od DFT prezentacija stručnjaka Tessent tokom poslednjih godina na ITC-u.
Darshan Kobla, viši direktor Microsoftove vodeće strategije testiranja u svim segmentima proizvoda, preporučuje da napori DFT-a budu jednostavni i predvidljivi kada su dizajni složeni.
Nilanjan Mukherjee, stariji direktor inženjerstva, Tessent, Siemens EDA, objašnjava kako rana verifikacija DFT-a smanjuje vreme za stavljanje na tržište.
Ankur Gupta, VP/GM, Tessent, Siemens EDA, završava ITC Diamond događaj prezentacijom o tome kako Siemens EDA omogućava pametniju budućnost brže.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unazad i učite od DFT prezentacija stručnjaka Tessent tokom poslednjih godina na ITC-u.
Ankur Gupta, potpredsednik i GM, Tessent, Siemens EDA, predstavlja DFT u In-Life monitoring za elektronske sisteme na ITC 2022.
Dan Trock, glavni inženjer u Amazon Veb Services, predstavlja smanjenje napora u dizajnu, vremena testiranja i snage pomoću SSN -a u AWS Custom Silicon-u.
Janusz Rajski, potpredsednik za istraživanje i razvoj, Tessent, Siemens EDA, predstavlja strukturni deterministički test u životnom ciklusu silicijuma.
Vidia Neerkundar, menadžer proizvoda, Tessent, Siemens EDA predstavlja napredak u DFT automatizaciji za 2.5D/3D IC eru.
Probojne barijere prinosa sa Siemens i PDF rešenjima koje su predstavili Siemens i Thomas Zanon, direktor angažovanja, PDF Solutions.
Ne propustite ovu priliku da se osvrnete unazad i učite od DFT prezentacija stručnjaka Tessent tokom poslednjih godina na ITC-u.
Dave Dehnert, glavni inženjer, Intel, raspravlja o implementaciji SSN-a na velikom višestrukom SOC-u.
Vu Iang, menadžer tehničkih i livničkih programa za Tessent u Siemens EDA, predstavlja perspektivu EDA o 3D IC testu, uključujući IEEE 1838 i metodologiju ispitivanja 3D steka.
Janusz Rajski, potpredsednik za istraživanje i razvoj za Tessent u Siemens EDA, predstavlja rad na trenutnom stanju tehnologije sabijanja uzoraka.
Lee Harrison, menadžer Solutions za testiranje automobila za Tessent u Siemens EDA, istražuje pitanja bezbednosnih izazova u IC testu.
Lee Harrison, menadžer Solutions za testiranje automobila za Tessent u Siemens EDA, raspravlja o korišćenju alata za upravljanje životnim ciklusom silicijuma (SLM) za praćenje efekata starenja na automobilsku elektroniku.
Srinu Alampalli, glavni inženjer u Broadcom-u, predstavlja poboljšanje testa na dizajnu od 3GHz sa SSN-om.
Plug & Plai DFT rešenja za računarstvo visokih performansi (HPC) /AI predstavljena u ime Dongkvan Hana iz kompanije Samsung Foundri.
