
SiliconInsight
Accelerați efectuarea testelor, depanarea și caracterizarea siliciului dispozitivelor care conțin structuri de testare Tessent ATPG, EDT, BIST și/sau IJTAG într-un mediu interactiv automatizat.
Cu complexitatea în creștere, Tessent Yield Learning proiectează instrumente pentru a reduce complexitatea fără a compromite calitatea sau rentabilitatea. Ajutăm clienții să se adapteze la mediile în schimbare, reducând totodată timpul de introducere pe piață și reducând costurile.

Introducerea unei noi tehnici pentru a maximiza randamentul diagnosticului. Tehnologia de partiționare dinamică din Tessent Diagnosis permite o reducere cu 50% a timpului de diagnosticare a scanării utilizând doar 20% din memoria tipică.