Tessent Yield Learning

Reduceți timpul de producție, gestionați excursiile de fabricație și recuperați randamentul cauzat de defecte sistematice. Prin înțelegerea modului de gestionare și optimizare a mediului de testare și colectare a datelor, soluțiile de învățare a randamentului pot fi configurate pentru a identifica defectele sistematice care cauzează randament scăzut, economisind timp.

Citește bloguri

Explorați tehnologiile

Tessent

SiliconInsight

Accelerați efectuarea testelor, depanarea și caracterizarea siliciului dispozitivelor care conțin structuri de testare Tessent ATPG, EDT, BIST și/sau IJTAG într-un mediu interactiv automatizat.

Tessent

Diagnostic

Aplicați tehnologii de diagnosticare conștiente de aspect și conștiente de celule pentru a clasifica și identifica cu precizie locația defectelor care cauzează defecțiuni în timpul testelor de fabricație.

colegii de revizuire a raportului pe laptop

Tessent

RandamentInsight

Eliminați zgomotul din datele de diagnosticare pentru a determina cauzele principale de bază, identificați limitatorii sistematici de randament și selectați cele mai bune dispozitive pentru analiza defecțiunilor.

Aflați mai multe

Cip înconjurat de circuite externe - instrument Siemens Calibre LFD

Raport

Îmbunătățiți randamentul de diagnosticare a scanării volumului de 10X

Introducerea unei noi tehnici pentru a maximiza randamentul diagnosticului. Tehnologia de partiționare dinamică din Tessent Diagnosis permite o reducere cu 50% a timpului de diagnosticare a scanării utilizând doar 20% din memoria tipică.

Omul care folosește o placă de depanare SoC

Webinar

Îndoirea curbei programului cu Tessent SiliconInsight

Alăturați-vă acestui webinar pentru a afla cum Tessent SiliconInsight rezolvă provocările legate de aducerea siliciului pentru o creștere a randamentului și a timpului de introducere pe piață.

bărbat așezat în fața monitorului într-un cadru de birou

Webinar

Depășiți barierele de randament cu PDF Solutions și Siemens

Tehnologii Siemens și PDF Solutions introduc o soluție integrată și cuprinzătoare end-to-end, care include analize, diagnosticare scanare și învățare automată.

Tessent Yield Learning

Reduceți complexitatea cu soluțiile Tessent Yield Learning

Alăturați-vă nouă pentru webinarul privind îmbunătățirile diagnosticului în lanț

Explorați tehnologiile

SiliconInsight

Diagnostic

RandamentInsight

Aflați mai multe

Îmbunătățiți randamentul de diagnosticare a scanării volumului de 10X

Îndoirea curbei programului cu Tessent SiliconInsight

Depășiți barierele de randament cu PDF Solutions și Siemens