Evenimente și webinarii Siemens EDA

Remediați constrângerile de randomizare rupte în timp real folosind fereastra de depanare a constrângerilor Questa - inspectați variabilele, vizualizați distribuțiile și izolați conflictele la un singur punct de întrerupere cu recompilare zero.

În cadrul acestui webinar, Siemens EDA și Intel Foundry vor introduce tehnologia podului încorporat și aplicațiile sale de piață.

Construiți o bază solidă în modelarea datelor EDM. Aflați cum biblioteca EDM structurează și definește datele, conectează obiectele prin relații și reunește aceste concepte într-un model practic de date. Nu este necesară experiență anterioară.

Aflați cum Siemens EDA și IEEE CEDA DATC accelerează cercetarea academică EDA cu primele repere publice Aprisa P&R pe testcase deschise și PDK-uri, reproductibile prin GitHub, prezentate la ICCAD-2025 pentru cercetarea RTL-to-GDS.

Catapult AI NN oferă un flux automat care începe cu un model de rețea neuronală Python și generează un accelerator hardware RTL, permițând explorarea rapidă a proiectării pentru a optimiza obiectivele PPA.

Descoperiți cum să utilizați cele mai bune practici Xpedition EDM și HyperLynx pentru a îmbunătăți gestionarea datelor de simulare, a eficientiza fluxurile de lucru de verificare și a construi un fir digital trasabil între proiectarea și verificarea PCB.

Provocări legate de constrângerile de sincronizare legate de DFT: Acest flux reprezintă o soluție care integrează Gencellicon cu Tessent DFT pentru generarea structurată a constrângerilor, validare automată și propagare consecventă.

Vedeți cum Tessent MemoryBist integrează ECC pentru creșterea randamentului de fabricație: mascarea biților ECC, prevenirea evadării testelor și repararea asistată de ECC ca soluție independentă sau asociată cu redundanță pentru fiabilitate în sistem.

Obțineți detalii despre Questa 2026.1: performanță de regresie mai rapidă, noi funcții de vizibilitate de depanare și îmbunătățiri de închidere a acoperirii pentru a aborda complexitatea crescândă a mediului UVM/SystemVerilog.

În acest webinar, vom arăta cum suplimentele adaptabile vă permit să extindeți Xpedition Standard la cerere: analiza integrității semnalului pre și post-layout (powered by HyperLynx), design rigid-flex și co-design avansat ECAD-MCAD.

Aflați cum strategiile de închidere a ceasului cu raportare bazată pe module identifică oportunitățile de optimizare în cascadă adânc în căile de ventilare și ventilatoare și maximizează wați economisiți pe oră de inginerie, permițând proiectarea cu consum redus de energie.

Aflați cum limbajul PSS vă permite să specificați intenția de verificare și să utilizați Questa One pentru a crea teste aleatorii pentru dvs.; iar acestea pot fi „realizate” pentru a rula pe diferite platforme, instrumente și etape de verificare.

Explorați arhitectura și microarhitectura SoftMax pentru a echilibra performanța, zona, resursele pentru inferența de margine. Descoperiți fluxurile de lucru agile de proiectare FPGA pentru a ține pasul cu algoritmii în evoluție.

Descoperiți modul în care Questa One Sim accelerează simularea cu tehnologia ParallelSIM, PSS încorporat, rezolvator de constrângeri VHDL, excluderi automate de acoperire a codului și multe altele pentru RTL, simulări la nivel de poartă și acoperire.

Acest webinar va introduce protocolul UALink, concentrându-se pe arhitectura și caracteristicile sale cheie care permit sisteme AI scalabile; apoi scufundați în capabilitățile esențiale ale Siemens Avery UALink Verification IP.

Acest webinar va introduce protocolul UALink, concentrându-se pe arhitectura și caracteristicile sale cheie care permit sisteme AI scalabile; apoi scufundați în capabilitățile esențiale ale Siemens Avery UALink Verification IP.

Descoperiți sinteza la nivel înalt și beneficiile sale în producerea rapidă și precisă a acceleratoarelor hardware. Vom acoperi proiectarea și verificarea pas cu pas a algoritmului Wake Word folosind HLS.

Fluxurile de lucru silozate creează blocaje care încetinesc ciclurile de proiectare și compromit calitatea. Acest webinar introduce o nouă abordare a mediilor de verificare sinergică folosind ecosistemul integrat Questa™ Developer/IVE.

Descoperiți modul în care Aprisa AI și sistemul Siemens EDA AI cresc productivitatea RTL-to-GDS de 10 ori, eficiența timpului de calcul de 3x și PPA cu 10%, cu ML și RL, AI generativ și agentic pentru învățare accelerată și automatizarea fluxului de lucru EDA.

Acest webinar arată modul în care Questa One Property Assist transformă solicitările utilizatorilor în solicitări LLM optimizate, preia soluțiile furnizate LLM și prezintă cele mai bune proprietăți SVA generate pentru utilizator.

Acest webinar introduce Questa One Sim CX, o soluție inovatoare de simulare bazată pe acoperire, care revoluționează verificarea UVM prin automatizarea inferenței acoperirii și stimulului, generând prejudecăți către zonele descoperite.

Aflați cum soluția Questa One DFT Verification, combinată cu Tessent Silicon Lifecycle Solutions, oferă o evoluție în experiența și performanța utilizatorului pentru a aborda aceste provocări emergente de verificare.

Aflați cum Questa One Sim FX optimizează campaniile de defecțiuni cu optimizarea listei de erori și capacități de clasificare a testelor și integrarea perfectă cu mediile existente de testare și capacități cuprinzătoare de analiză a erorilor.

Descoperiți cum Questa Verification IQ Testplan Author se integrează cu instrumentele de gestionare a ciclului de viață al aplicațiilor (Siemens Polarion și Jama) pentru a oferi o soluție colaborativă de trasabilitate care vă transformă fluxul de lucru de verificare

Această sesiune a introdus o soluție transformatoare de platforme conectate cu abordări bazate pe date și integrare AI pentru a aborda provocările cu care se confruntă interdependențele, limitările forței de muncă și eficiența și asigurarea calității.

În acest webinar, vom explora modul în care clasificarea funcțională a defectelor îmbunătățește acoperirea defectelor. Aflați avantajele integrării gradării funcționale a defecțiunilor în procesele DFT, abordând în mod specific defecțiunile care nu pot fi testate prin teste de scanare.