
Silicon Insight
Acelere a preparação para testes, a depuração e a caracterização do silício de dispositivos contendo estruturas de teste Tessent ATPG, EDT, BIST e/ou IJTAG em um ambiente interativo automatizado.
Com o aumento da complexidade, a Tessent Yield Learning está projetando ferramentas para reduzir a complexidade sem comprometer a qualidade ou a lucratividade. Estamos ajudando os clientes a se adaptarem a ambientes em constante mudança e, ao mesmo tempo, diminuindo o tempo de colocação no mercado e reduzindo os custos.

Apresentando uma nova técnica para maximizar o rendimento do diagnóstico. A tecnologia de particionamento dinâmico do Tessent Diagnosis permite uma redução de 50% no tempo de diagnóstico de escaneamento usando apenas 20% da memória típica.