Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analizuje statystycznie dane diagnostyczne, aby zidentyfikować i oddzielić systematyczne ograniczniki wydajności przed wykonaniem jakiejkolwiek analizy awarii. Tessent YieldInsight specjalizuje się w zrozumieniu i identyfikacji utraty wydajności z danych testów skanowanych i sprawia, że wyniki diagnostyki objętościowej są możliwe do wykonania.
Dlaczego Tessent YieldInsight?
Wykorzystując specjalistyczne techniki eksploracji danych i analizy statystycznej, Tessent YieldInsight eliminuje hałas z danych diagnostycznych, aby określić podstawowe przyczyny, zidentyfikować systematyczne ograniczniki wydajności i wybrać najlepsze urządzenia do analizy awarii.
Zidentyfikuj ukryte ograniczniki wydajności
Tessent YieldInsight identyfikuje przyczynę systematycznej utraty wydajności i dostarcza wskazówek w procesie wyboru matrycy do analizy awarii.
Usuń hałas z wyników diagnozy
Technologia dekonwolucji przyczyn pierwotnych (RCD) usuwa hałas z wyników diagnozy i określa podstawowe przyczyny. Wybiera i filtruje populacje nieudanych sztuk, grupując matryce, które zawodzą z podobnych powodów.
Współpracuje z Tessent Diagnosis
Analizuje wyniki diagnozy uwzględniającej układ i świadomość komórek z diagnozy Tessent Diagnosis, aby zidentyfikować i oddzielić systematyczne ograniczniki wydajności przed wykonaniem jakiejkolwiek analizy awarii, eliminując potrzebę kosztownej lokalizacji fizycznej.
Nowatorska technologia odwracalnego łańcucha skanowania
Prowadzone przez ASM International, to wspólne seminarium internetowe Siemens EDA i Qualcomm spotlights:
- Motywacja do stosowania diagnostyki łańcuchowej w rampie wydajności
- Przegląd diagnostyki łańcuchowej, łańcuch odwracalny
- Technologia i diagnostyka łańcucha odwracalnego
- Wdrożenie łańcuchów odwracalnych
- Wyniki krzemu z układu testowego
