
SilikonInsight
Przyspiesz tworzenie testów, debugowanie i charakterystykę krzemu urządzeń zawierających struktury testowe Tessent ATPG, EDT, BIST i/lub IJTAG w zautomatyzowanym środowisku interaktywnym.
Wraz ze wzrostem złożoności, Tessent Yield Learning projektuje narzędzia zmniejszające złożoność bez uszczerbku dla jakości i rentowności. Pomagamy klientom dostosować się do zmieniających się środowisk, jednocześnie skracając czas wprowadzania na rynek i zmniejszając koszty.

Wprowadzenie nowej techniki maksymalizacji przepustowości diagnostycznej. Technologia dynamicznego partycjonowania w Tessent Diagnosis umożliwia skrócenie czasu diagnozy skanowania o 50% przy użyciu zaledwie 20% typowej pamięci.