Dlaczego Tessent SiliconInsight?
Znacznie zwiększyć produktywność podczas walidacji krzemu i debugowania, przyspieszając czas wprowadzania na rynek. Rozwiązanie Tessent SiliconInsight działa w środowisku stacjonarnym i łączy się z dowolną płytką debugowania, wydajności lub przynoszącą dostęp do 120 pinów urządzenia.
Sprawdź wzorce testowe przed pierwszym krzemem
Sprawdzić wzorce testowe przed pierwszym krzemem za pomocą projektu w standardowym symulatorze, wstrzykiwać usterki, scharakteryzować potencjalne scenariusze awarii bez krzemu.
Tania i wysoka dostępność charakterystyka
Środowisko debugowania pulpitu dla ATPG, MBIST, LBIST i IJTAG dzięki dostępowi do 120 pinów urządzeń za pomocą adapterów USB innych firm. Możliwość zasilania i zegara Shmoo przez GPIB.
Połącz moc IJTAG z ATE
Technologia ATE-connect tworzy standardowy interfejs w branży, który eliminuje bariery komunikacyjne między zastrzeżonym oprogramowaniem specyficznym dla testerów a platformami DFT (design-for-test).
Przyspieszenie zwiększania wzoru w projektach o dużej liczbie pinów
Posłuchaj, jak Ari Krantz, inżynier DFT w Broadcom, omawia przyspieszające tworzenie wzorców w projektach o dużej liczbie pinów, przemysłowe studium przypadku wykorzystujące SiliconInsight-HP beta.
Pokonaj bariery wydajności dzięki rozwiązaniom PDF i Siemens
Przełamywanie barier rentowności i przyspieszenie wzrostu rentowności wymaga nowych rozwiązań, które wykorzystują najlepsze technologie na rynku. Podczas tego webinaru technolodzy Siemens i PDF Solutions wprowadzają zintegrowane, kompleksowe rozwiązanie obejmujące analizę, diagnostykę skanowania i uczenie maszynowe.
