
Calibre EUV
Visaptverošs atbalsts, risinot unikālas augstas NSS EUV problēmas, piemēram, anamorfisko optiku un masku 3D modelēšanu, lai ņemtu vērā ēnojuma efektus.
Neapmierinātais pieprasījums pēc integrālajām shēmām (IC) turpina palielināt mazākus kritiskos izmērus. Fotolitogrāfijas procesi, ieskaitot ārkārtēju ultravioleto starojumu (EUV), rada arvien sarežģītāku un datu apjomu. Mūsu skaitļošanas litogrāfijas risinājumi nodrošina rentablu tehnoloģiju iespējošanu.
Gan litogrāfiskās problēmas, gan skaitļošanas sarežģītība, kas saistīta ar uzlabotiem procesa mezgliem, rada nepieciešamību pēc uzlabotām iespējām skaitļošanas litogrāfijas programmatūrā un aparatūrā. Calibre risinājums piedāvā vislabāko savā klasē precizitāti, ātrumu un īpašumtiesību izmaksas.

Blīvs optiskais tuvums un procesa korekcija, lai nodrošinātu dziļu submikronu ražošanu.
Dizainā ievieto apakšizšķirtspējas palīglīdzekļus (SRAF).
Jaudīga pilnas mikroshēmas simulācija un litogrāfiskā analīze.

GUI izmanto, lai palaistu visdažādākās lietojumprogrammas un skatītu rezultātus.

Augsti mērogojams kalibrēšanas dzinējs optiskajiem, rezistences un kodināšanas modeļiem.
Ātra, apgriezta uz pikseļiem balstīta optiskā tuvuma korekcija.
Viegli lietojams GUI apgaismojuma avota optimizēšanai.