Tessent Yield Learning

산출 시간을 줄이고, 제조 변동을 관리하고, 시스템적 결함으로 인한 수율을 회복하세요.테스트 및 데이터 수집 환경을 관리하고 최적화하는 방법을 이해하면 수익률 학습 솔루션을 설정하여 낮은 수율을 유발하는 시스템적 결함을 식별하여 시간을 절약할 수 있어요.

기술 살펴보기

자동화된 대화형 환경에서 테센트 ATPG, EDT, BIST 및/또는 IJTAG 테스트 구조를 포함하는 장치의 테스트 시작, 디버그 및 실리콘 특성화를 가속화하세요.

레이아웃 인식과 셀 인식 진단 기술을 적용하여 제조 테스트 중에 고장을 일으키는 결함의 위치를 정확하게 분류하고 식별해요.

진단 데이터에서 노이즈를 제거하여 근본적인 근본 원인을 파악하고, 체계적인 수율 제한기를 식별하고, 고장 분석에 가장 적합한 장치를 선택해요.

백서

진단 처리량을 극대화하는 새로운 기술을 도입했어요.Tessent Diagnossing의 동적 파티셔닝 기술을 사용하면 일반 메모리의 20% 만 사용하여 스캔 진단 시간을 50% 단축할 수 있어요.

이 웨비나에 참여해서 Tessent SiliconInsight가 어떻게 실리콘 생산 문제를 해결해 수익률 상승과 시장 출시 시간을 개선하는지 알아보세요.

Siemens와 PDF Solutions 기술자들이 분석, 스캔 진단, 기계 학습을 포함하는 포괄적인 통합 솔루션을 도입해요.