Tessent Yield Learning

生産までの時間を短縮し、製造エクスカーションを管理し、システム上の欠陥によって生じた利回りを回復します。テストおよびデータ収集環境を管理および最適化する方法を理解することで、利回りの低下の原因となる系統的な欠陥を特定するための利回り学習ソリューションを設定でき、時間を節約できます。

テクノロジーを探求してください

レイアウト認識型およびセル認識型の診断技術を適用して、製造試験中に故障の原因となった欠陥の位置を正確に分類して特定します。

自動化されたインタラクティブ環境で、Tessent ATPG、EDT、BIST、IJTAGテスト構造を含むデバイスのテスト起動、デバッグ、シリコン特性評価を加速します。

診断データからノイズを排除して、根本的な原因を特定し、体系的な収量制限要因を特定し、故障分析に最適なデバイスを選択してください。

ホワイトペーパー

診断スループットを最大化するための新しい手法を紹介します。Tessent Diagnosis ologyの動的パーティショニング技術により、一般的なメモリの 20% しか使用せず、スキャン診断時間を 50% 短縮できます。

このウェビナーに参加して、Tessent SiliconInsightがシリコンの立ち上げの課題をどのように解決し、利回りの向上と市場投入までの時間を短縮するかを学びましょう。

Siemens PDFSolutions ズの技術者は、分析、スキャン診断、機械学習を含む統合された包括的なエンドツーエンドのソリューションを紹介します。