
アナログテスト
Tessent AnalogTestは、アナログテストパターンの開発と検証をエンジニアリングの数か月からエンジニアリング時間に短縮します。これは、テストコストを削減しながら欠陥カバレッジを最大化する最も効果的な方法です。
Tessentソフトウェアは、最高のテストカバレッジを確保し、歩留まりを加速し、シリコンライフサイクル全体で品質と信頼性を向上させるのに役立つICテストおよび機能監視ソリューションを提供します。
クラス最高のソリューションを基盤として構築されたTessentロジック、メモリ、ミックスドシグナルのテスト製品は、単一のデータベースを使用して連携し、チップ全体をカバーします。Tessentの製品は、再ツールを最小限に抑え、自動化により設計を簡素化し、階層的なDFTフローを使用してATPGの時間を短縮します。
Tessent Yield Learning製品のテスト起動、シリコンの特性評価、歩留まりと故障の分析のための高度なソリューションで、シリコン検証と歩留まり増加中の生産性を向上させてください。
RISC-Vのトレースとデバッグの業界リーダーであるTessent Embedded Analytics を使用して、高騰する検証コストに対処し、複雑なシステムオンチップ(SoC)のシステム全体のリアルタイムのデバッグと導入後の分析を可能にします。
欠陥ゼロという高まる要求に応え、自動車やIC業界の安全基準や規制を遵守してください。Tessent Safety and SecSecurity ityは、安全性の強化、セキュリティの最適化、品質の確保、信頼性の向上というお客様のニーズを満たす技術を継続的に開発しています。