Tessent
all
Silicon Insight
Accelera l'avvio dei test, il debug e la caratterizzazione del silicio di dispositivi contenenti strutture di test Tessent ATPG, EDT, BIST e/o IJTAG all'interno di un ambiente interattivo automatizzato.
Tessent Yield Learning
Ridurre i tempi di produzione, gestire le escursioni di produzione e recuperare la resa causata da difetti sistematici. Comprendendo come gestire e ottimizzare l'ambiente di test e raccolta dati, è possibile configurare soluzioni di yield learning per identificare i difetti sistematici che causano una bassa resa, risparmiando tempo.
Ridurre la complessità con le soluzioni Tessent Yield Learning
Con l'aumento della complessità, Tessent Yield Learning sta progettando strumenti per ridurre la complessità senza compromettere la qualità o la redditività. Stiamo aiutando i clienti ad adattarsi agli ambienti in evoluzione, riducendo al contempo il time-to-market e riducendo i costi.
Esplora le tecnologie
Scopri di più
White paper
all
Migliora di 10 volte la velocità di diagnosi della scansione del volume
Presentazione di una nuova tecnica per massimizzare la produttività della diagnosi. La tecnologia di partizionamento dinamico di Tessent Diagnosis consente una riduzione del 50% del tempo di diagnosi della scansione utilizzando solo il 20% della memoria tipica.
