
Calibre EUV
Átfogó támogatás a magas NS-es EUV egyedi kihívásainak, például az anamorf optika és a maszk 3D modellezés kezelésére az árnyékoló hatások figyelembevétele érdekében.
Az integrált áramkörök (IC-k) iránti kielégíthetetlen igény továbbra is kisebb kritikus méreteket hajt végre. A fotolitográfiai folyamatok, beleértve az extrém ultraibolya (EUV), egyre bonyolultabb és adatmennyiséget mutatnak. Számítási litográfiai megoldásaink költséghatékony technológiák lehetővé teszik.
Mind a litográfiai kihívások, mind a fejlett folyamatcsomópontokhoz kapcsolódó számítási komplexitás szükségessé teszi a számítási litográfiai szoftver és hardver fejlett képességeit. A Calibre megoldás osztályának legjobb pontosságát, sebességét és tulajdonosi költségeit kínálja.

Sűrű optikai közelség és folyamatkorrekció a mély szubmikron gyártás lehetővé tétele érdekében.
Beilleszti az alfelbontású segédfunkciókat (SRAF) a tervbe.
Erőteljes chipes szimuláció és litográfiai elemzés.

A felhasználói felület sokféle alkalmazás elindítására és az eredmények megtekintésére szolgál.

Magasan skálázható kalibrációs motor optikai, ellenálló és marató modellekhez.
Gyors, inverz pixel alapú optikai közelségkorrekció.
Könnyen használható GUI a megvilágítási forrás optimalizálásához.