
Calibre EUV
Átfogó támogatás a magas NS-es EUV egyedi kihívásainak, például az anamorf optika és a maszk 3D modellezés kezelésére az árnyékoló hatások figyelembevétele érdekében.
Az integrált áramkörök (IC-k) iránti kielégíthetetlen igény továbbra is kisebb kritikus méreteket hajt végre. A fotolitográfiai folyamatok, beleértve az extrém ultraibolya (EUV), egyre bonyolultabb és adatmennyiséget mutatnak. Számítási litográfiai megoldásaink költséghatékony technológiák lehetővé teszik.
Mind a litográfiai kihívások, mind a fejlett folyamatcsomópontokhoz kapcsolódó számítási komplexitás szükségessé teszi a számítási litográfiai szoftver és hardver fejlett képességeit. A Calibre megoldás osztályának legjobb pontosságát, sebességét és tulajdonosi költségeit kínálja.

Sűrű optikai közelség és folyamatkorrekció a mély szubmikron gyártás lehetővé tétele érdekében.
Beilleszti az alfelbontású segédfunkciókat (SRAF) a tervbe.
Erőteljes chipes szimuláció és litográfiai elemzés.

felhasználói felület sokféle alkalmazás elindítására és az eredmények megtekintésére szolgál.

Magasan skálázható kalibrációs motor optikai, ellenálló és marató modellekhez.
Gyors, inverz pixel alapú optikai közelségkorrekció.
Könnyen használható GUI a megvilágítási forrás optimalizálásához.