Tessent MemoryBist fournit une solution complète pour tester, diagnostiquer, réparer, déboguer et caractériser rapidement les mémoires intégrées. Grâce à une architecture hiérarchique flexible, l'autotest et l'autoréparation intégrés peuvent être intégrés dans les cœurs individuels comme au niveau supérieur.
Tessent MemoryBist, un autotest intégré à la mémoire de pointe, inclut un flux d'automatisation complet unique qui permet de vérifier les règles de conception, de planifier les tests, d'intégrer et de vérifier, le tout au niveau du RTL ou de la porte.
Tessent MemoryBist ECC renforce la fiabilité, améliore la qualité des tests et protège contre les défauts dus au vieillissement. Ses critères de réussite/échec personnalisables permettent de combiner de manière optimale la redondance de la mémoire et le code correcteur d'erreurs.
Tessent MemoryBist NVM permet des tests et des réparations flexibles, réduit les coûts de fabrication et améliore la fiabilité. Les algorithmes automatisés spécifiques au NVM activent des modes d'accès spécialisés et fonctionnent avec l'option ECC. Disponible au début du 26
Le BAP avancé fournit une interface configurable pour optimiser les tests intégrés au système. Il prend également en charge un protocole à faible latence pour configurer la mémoire du contrôleur BIST, exécuter des tests Go/NoGo et contrôler l'état de réussite ou d'échec.
Les algorithmes de test de mémoire peuvent être codés en dur dans le contrôleur Tessent MemoryBist, puis appliqués à chaque mémoire par le biais du contrôle d'exécution. Cela vous permet de sélectionner des algorithmes de test plus courts au fur et à mesure que le processus de fabrication arrive à maturité.
L'option de réparation Tessent MemoryBist élimine les complexités et les coûts associés aux flux de réparation externes. Il teste et répare définitivement toutes les mémoires défectueuses d'une puce en utilisant pratiquement aucune ressource externe.
Regardez Etienne Racine, chef de produit Tessent, expliquer comment Tessent MemoryBist peut vous aider à optimiser la qualité des tests, à minimiser la durée des tests, à améliorer le rendement et à réparer les mémoires grâce à son architecture flexible.
Découvrez comment l'utilisation du logiciel Tessent vous permet de vous aligner sur les normes et réglementations émergentes tout en proposant un ensemble complet de solutions de bout en bout répondant aux exigences des développements actuels en matière de circuits intégrés automobiles.
Cet article décrit les avantages de l'utilisation d'une architecture de bus partagée pour tester et réparer des mémoires au sein des cœurs IP et présente l'automatisation disponible dans Tessent MemoryBist.
Cette étude de cas décrit comment ON Semiconductor a utilisé le flux hiérarchique Tessent MemoryBist pour réduire le temps d'insertion du BIST dans la mémoire de 6 fois.
