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Couloir du centre de données avec des serveurs de données derrière des portes vitrées.
Tessent Advanced DFT

Test In-System Tessent

Des tests et une surveillance continus des appareils sont nécessaires pour garantir des performances, une fiabilité et une sécurité optimales tout au long de leur fonctionnement. Tessent In-System Test permet d'appliquer des modèles de test déterministes de haute qualité pour les tests en système et sur le terrain pendant le cycle de vie de votre puce.

Pourquoi utiliser Tessent In-System Test ?

Tessent In-System Test fournit le matériel intégré et les logiciels nécessaires pour permettre l'application de modèles de tests déterministes de haute qualité tout en réduisant la durée des tests par rapport au BIST logique traditionnel.

Active les tests adaptatifs

Les tests déterministes intégrés au système vous permettent de modifier les modèles de test en fonction de l'apparition de nouveaux défauts et modèles de défauts ou de l'évolution du contenu des tests.

Fonctionne avec Tessent SSN

Le contrôleur de test intégré au système récupère les données depuis les interfaces de bus, pilotant le réseau de bus Streaming Scan Network en interne pour appliquer des paquets de données de numérisation aux cœurs à des fins de test, réduisant ainsi la durée des tests et améliorant le profil de puissance pendant les tests.

Réutilise les modèles de test

Réutilise l'infrastructure de test intégrée existante pour cibler les défauts latents, intermittents, aléatoires ou liés à l'âge pendant la durée de vie du produit en permettant de réutiliser les modèles basés sur l'IJTAG et le SSN pour les applications intégrées au système.

Répond aux erreurs de données silencieuses

Fournit les fonctionnalités matérielles et logicielles entièrement automatisées nécessaires pour répondre aux facteurs liés au vieillissement et à l'environnement qui se manifestent par des erreurs silencieuses ou une corruption des données. Le contenu des tests peut être modifié en fonction de l'évolution des exigences.

Permettre des modèles de tests déterministes de haute qualité

Lancé à l'occasion de l'ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) complète le Tessent Streaming Scan Network (SSN) et améliore sa capacité à être utilisé dans un environnement intégré au système et sur le terrain, étendant ainsi la technologie de pointe fournie par Tessent SSN. Les concepteurs peuvent appliquer des modèles de tests déterministes (EDT) intégrés générés à l'aide du logiciel Tessent SSN via le bus SSN directement à l'aide du contrôleur de test intégré au système.

Utiliser des modèles de tests déterministes de haute qualité

Tessent In-System Test intègre un test déterministe intégré au système (IS-EDT) à Tessent Streaming Scan Network pour permettre aux utilisateurs d'exécuter des modèles déterministes dans le système. Bien que la demande de modèles IS-EDT soit essentielle dans l'industrie automobile, cette technologie profite également à la conception des centres de données et des réseaux. Cet article explique comment Tessent In-System Test répond aux besoins en matière de tests intégrés et sur le terrain.

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Regardez le webinaire à la demande Améliorer la qualité de vos tests intégrés au système grâce à un test déterministe intégré.

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