Solutions de test Tessent

Tessent AnalogTest réduit le développement et la vérification de modèles de test analogiques en passant des mois d'ingénierie aux heures d'ingénierie. C'est le moyen le plus efficace de maximiser la couverture des défauts tout en réduisant le coût des tests.

Tessent In-System Test fournit le matériel intégré et les logiciels nécessaires pour permettre l'application de modèles de test déterministes de haute qualité tout en réduisant le temps de test par rapport à la logique BIST traditionnelle.

Proposez des tests de numérisation déterministes de la plus haute qualité avec les coûts de fabrication les plus bas, en utilisant la compression brevetée sur puce pour réduire le volume de données de test et réduire la durée des tests.

Automatisez la génération et l'insertion de matériel conforme à la norme IEEE 1838 et définissez l'architecture d'accès aux tests IEEE pour les circuits intégrés empilés 3D.

Réduisez le temps de développement de la DFT et les coûts des tests de fabrication en découplant les exigences DFT au niveau du cœur et au niveau de la puce avec Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permettez une automatisation complète et l'intégration des tests, de la réparation, du débogage et de la caractérisation des mémoires intégrées avec Tessent MemoryBIST.

Assurez la conformité à la norme ISO 26262 grâce à la solution d'autotest intégrée à logique idéale pour les appareils critiques en matière de sécurité tels que les circuits intégrés utilisés dans les applications automobiles et médicales.

Combinez l'automatisation et l'IP sur puce pour permettre le test et le diagnostic des circuits intégrés à tout moment pendant le fonctionnement fonctionnel d'un véhicule, une exigence fondamentale de la norme ISO 26262.

Réduisez les efforts de mise en œuvre de la DFT grâce à une automatisation optimale du Tessent Platform flux pour la DFT hiérarchique.

Améliorez les niveaux de compression des tests jusqu'à 4X, activez la DFT hiérarchique, la préparation logique BIST et l'insertion de scans avec Tessent ScanPro.

Simplifiez un large éventail de tâches DFT critiques grâce à ce nouveau logiciel développé pour les équipes de conception de circuits intégrés.

Simplifiez le processus de génération d'ensembles de tests compacts à couverture élevée. La capacité de Tessent FastScan à appliquer à presque tous les types de conception, en fait la solution ATPG la plus polyvalente disponible.

Assurez l'automatisation et l'intégration des IP de test et d'instrumentation conformes à la norme IEEE 1687 IJTAG provenant de diverses sources dans une conception de circuit intégré.

Automatisez l'ajout de la prise en charge du Boundary Scan standard IEEE 1149.1 aux circuits intégrés de toute taille ou complexité, afin de réduire les efforts de développement et d'améliorer les délais de mise sur le marché.

Simulez les défauts au niveau des transistors pour les circuits numériques analogiques, à signaux mixtes et sans balayage, en automatisant l'évaluation de la couverture pour répondre aux normes de qualité telles que la norme ISO 26262.