Solutions de test Tessent

Tessent AnalogTest réduit le développement et la vérification de modèles de tests analogiques, passant des mois d'ingénierie aux heures d'ingénierie. C'est le moyen le plus efficace de maximiser la couverture des défauts tout en réduisant le coût des tests.

Tessent In-System Test fournit le matériel intégré et les logiciels nécessaires pour permettre l'application de modèles de tests déterministes de haute qualité tout en réduisant la durée des tests par rapport au BIST logique traditionnel.

Proposez un test de numérisation déterministe de la plus haute qualité aux coûts de fabrication les plus bas, en utilisant une compression brevetée sur puce pour réduire le volume des données de test et réduire la durée des tests.

Automatisez la génération et l'insertion de matériel conforme à la norme IEEE 1838 et définissez l'architecture d'accès aux tests IEEE pour les circuits intégrés empilés en 3D.

Réduisez le temps de développement de la DFT et les coûts des tests de fabrication en découplant les exigences DFT au niveau du cœur et de la puce avec Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Facilitez l'automatisation complète et l'intégration des tests, de la réparation, du débogage et de la caractérisation des mémoires intégrées avec Tessent MemoryBist.

Assurez la conformité à la norme ISO 26262 grâce à la solution d'autotest intégrée idéale pour les appareils critiques tels que les circuits intégrés utilisés dans les applications automobiles et médicales.

Combinez l'automatisation et l'IP intégrée pour permettre le test et le diagnostic des circuits intégrés à tout moment pendant le fonctionnement du véhicule, une exigence fondamentale de la norme ISO 26262.

Réduisez les efforts de mise en œuvre de la DFT en automatisant de manière optimale le flux de la Tessent Platform pour la DFT hiérarchique.

Améliorez les niveaux de compression des tests jusqu'à 4 fois, activez la DFT hiérarchique, la préparation logique au BIST et l'insertion de scans avec Tessent ScanPro.

Simplifiez un large éventail de tâches DFT critiques grâce à ce nouveau logiciel développé pour les équipes de conception de circuits intégrés.

Simplifiez le processus de génération de kits de test compacts à couverture élevée. La capacité de Tessent FastScan à être appliqué à presque tous les types de design en fait la solution ATPG la plus polyvalente du marché.

Automatiser et intégrer les IP de test et d'instrumentation conformes à la norme IEEE 1687 IJTAG provenant de différentes sources dans la conception d'un circuit intégré.

Automatisez l'ajout de la prise en charge du Boundary Scan selon la norme IEEE 1149.1 aux circuits intégrés, quelle que soit leur taille ou leur complexité, afin de réduire les efforts de développement et d'améliorer les délais de commercialisation.

Simulez les défauts au niveau des transistors pour les circuits numériques analogiques, à signaux mixtes et sans balayage, en automatisant l'évaluation de la couverture afin de respecter les normes de qualité telles que la norme ISO 26262.