Événements à Tessent

Découvrez comment les tests de numérisation numérique et l'ATPG peuvent être appliqués aux circuits A/MS, afin d'obtenir une couverture élevée des défauts et de minimiser le temps passé aux testeurs, de plusieurs ordres de grandeur.

Découvrez comment les logiciels intégrés, fonctionnant sur du silicium cible, peuvent constituer une meilleure alternative à l'extraction d'informations à partir de moniteurs intégrés et de structures de débogage à des fins d'analyse et d'optimisation.

Ce webinaire présente le Tessent Streaming Scan Network (SSN), une solution DFT qui simplifie et accélère considérablement la planification et la mise en œuvre de la DFT grâce à l'automatisation et à des méthodes prêtes à l'emploi afin de réduire les délais de mise sur le marché.

Peter Shields, chef de produit chez Tessent, donne un avis d'expert sur la norme de traçage RISC-V et explique comment la mise en œuvre de cette norme contribue à réduire les risques liés à l'adoption du RISC-V.

Ne manquez pas ce webinaire, qui présente et présente le nouveau logiciel Tessent Multi-DIE, qui permet d'automatiser complètement les tâches DFT très complexes associées aux derniers modèles de circuits intégrés 2,5D et 3D.

Découvrez comment relever les défis que les systèmes ADAS critiques présentent aux concepteurs de semi-conducteurs pour répondre aux exigences de sécurité fonctionnelle définies par la norme ISO 26262.

Participez à ce webinaire pour découvrir comment Tessent SiliconInsight permet de relever les défis liés à la production de silicium afin d'améliorer les rendements et les délais de commercialisation.

Regardez ce webinaire à la demande organisé par Siemens et les technologues de PDF Solutions pour en savoir plus sur notre solution complète et intégrée de bout en bout qui inclut des analyses, des diagnostics par numérisation et l'apprentissage automatique.

Les nouvelles méthodes et outils pour SoC DFT peuvent simplifier les problèmes liés à la technologie, à la conception et à la mise à l'échelle du système. Découvrez comment réduire les risques et améliorer les délais de mise sur le marché grâce à une solution DFT plus prévisible et plus fiable.

Regardez ce webinaire à tout moment sur la manière de relever efficacement le défi de la sécurisation des véhicules connectés et autonomes.

Connectez-vous pour écouter les leaders du secteur parler des défis techniques liés à la conception de puces d'intelligence artificielle. Gajinder Panesar, boursier Siemens, explique la valeur de l'analytique embarquée pour aider les puces d'IA et de machine learning à atteindre leur plein potentiel.

Optimisez les performances du SoC et effectuez une maintenance prédictive sur le terrain. Une approche de surveillance approfondie des données permet d'améliorer radicalement les délais de génération de revenus, la qualité des produits, la fiabilité, la sécurité et la rentabilité.

Regardez ce webinaire à la demande pour en savoir plus sur la technologie des chaînes de numérisation réversibles et sur la manière dont elle a amélioré la résolution des diagnostics par 4 dans le cadre d'une étude de cas industrielle.