Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analiza estadísticamente los datos de diagnóstico para identificar y separar los limitadores de rendimiento sistemáticos antes de realizar cualquier análisis de fallos. Tessent YieldInsight está especializada en entender e identificar la pérdida de rendimiento a partir de los datos de las pruebas escaneadas y hace que los resultados del diagnóstico de volumen sean procesables.
¿Por qué Tessent YieldInsight?
Mediante técnicas especializadas de análisis estadístico y minería de datos, Tessent YieldInsight elimina el ruido de los datos de diagnóstico para determinar las causas principales subyacentes, identificar los limitadores de rendimiento sistemáticos y seleccionar los mejores dispositivos para analizar los fallos.
Identifique los limitadores de rendimiento ocultos
Tessent YieldInsight identifica la causa de la pérdida sistemática de rendimiento y proporciona orientación durante el proceso de selección de los troqueles para el análisis de los fallos.
Eliminar el ruido de los resultados del diagnóstico
La tecnología de deconvolución de la causa principal (RCD) elimina el ruido de los resultados del diagnóstico y determina las causas principales subyacentes. Selecciona y filtra las poblaciones de dados que fallan, agrupando los dados que fallan por motivos similares.
Funciona con Tessent Diagnosis
Analiza los resultados del diagnóstico de Tessent Diagnosis, según el diseño y las celdas, para identificar y separar los limitadores de rendimiento sistemáticos antes de realizar cualquier análisis de fallo, lo que elimina la necesidad de una costosa localización física.
Una novedosa tecnología de cadena de escaneo reversible
Organizado por ASM International, este seminario web conjunto entre Siemens EDA y Qualcomm destaca:
- Motivación para utilizar el diagnóstico en cadena en la rampa de rendimiento
- Descripción general del diagnóstico en cadena, cadena reversible
- Tecnología y diagnóstico de cadenas reversibles
- Implementación de cadenas reversibles
- Resultados de silicio de un chip de prueba
