Tessent
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Silicon Insight
Acelere las pruebas, la depuración y la caracterización del silicio de los dispositivos que contienen estructuras de prueba ATPG, EDT, BIST y/o IJTAG de Tessent en un entorno interactivo automatizado.
Tessent Yield Learning
Reduzca el tiempo de producción, gestione las excursiones de fabricación y recupere el rendimiento provocado por defectos sistemáticos. Al entender cómo gestionar y optimizar el entorno de pruebas y recopilación de datos, se pueden configurar soluciones de aprendizaje para identificar los defectos sistemáticos que provocan un bajo rendimiento y ahorrar tiempo.
Reduzca la complejidad con las soluciones Tessent Yield Learning
Con el aumento de la complejidad, Tessent Yield Learning diseña herramientas para reducir la complejidad sin comprometer la calidad ni la rentabilidad. Ayudamos a los clientes a adaptarse a los entornos cambiantes y, al mismo tiempo, reducimos el tiempo de comercialización y los costes.
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Mejore 10 veces el rendimiento del diagnóstico del escaneo de volumen
Presentamos una nueva técnica para maximizar el rendimiento del diagnóstico. La tecnología de partición dinámica de Tessent Diagnosis permite reducir un 50% el tiempo de diagnóstico del escaneado con solo un 20% de la memoria típica.
