
Calibre EUV
Ολοκληρωμένη υποστήριξη για την αντιμετώπιση των μοναδικών προκλήσεων του EUV υψηλού NA, όπως τα αναμορφικά οπτικά και η τρισδιάστατη μοντελοποίηση μάσκας για να ληφθούν υπόψη τα εφέ σκίασης.
Η ακόρεστη ζήτηση για ολοκληρωμένα κυκλώματα (IC) συνεχίζει να οδηγεί σε μικρότερες κρίσιμες διαστάσεις. Οι διαδικασίες φωτολιθογραφίας, συμπεριλαμβανομένης της ακραίας υπεριώδους ακτινοβολίας (EUV), παρουσιάζουν όλο και μεγαλύτερη πολυπλοκότητα και όγκο δεδομένων. Οι λύσεις υπολογιστικής λιθογραφίας μας επιτρέπουν οικονομικά αποδοτική ενεργοποίηση τεχνολογίας.
Τόσο οι λιθογραφικές προκλήσεις όσο και η υπολογιστική πολυπλοκότητα που σχετίζεται με τους προηγμένους κόμβους διεργασιών δημιουργούν ανάγκη για προηγμένες δυνατότητες στο λογισμικό και το υλικό υπολογιστικής λιθογραφίας. Η λύση Calibre προσφέρει την καλύτερη ακρίβεια, ταχύτητα και κόστος ιδιοκτησίας στην κατηγορία.

Πυκνή οπτική εγγύτητα και διόρθωση διεργασίας για να επιτραπεί η βαθιά κατασκευή υπομικρονίων.
Εισάγει λειτουργίες υποανάλυσης (SRAF) σε ένα σχέδιο.
Ισχυρή προσομοίωση πλήρους τσιπ και λιθογραφική ανάλυση.

Το GUI χρησιμοποιείται για την εκκίνηση μιας ευρείας ποικιλίας εφαρμογών και για την προβολή αποτελεσμάτων.

Μηχανή βαθμονόμησης υψηλής κλιμάκωσης για οπτικά μοντέλα, μοντέλα αντίστασης και χάραξης.
Γρήγορη, αντίστροφη διόρθωση οπτικής εγγύτητας με βάση pixel.
Εύκολο στη χρήση GUI για βελτιστοποίηση της πηγής φωτισμού.