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Seitenansicht des Chips auf dem Brett mit blauem Hintergrund
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Erzielen Sie den hochwertigsten eingebetteten deterministischen Scantest mit den niedrigsten Herstellungstestkosten mit Tessent TestKompress.

Warum Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, ein branchenführendes Scan-Test-Tool, verwendet die Embedded Deterministic Test-Technologie, um ein Höchstmaß an Testqualität zu erreichen und gleichzeitig Scanmuster oft um das 100-fache oder mehr zu komprimieren.

Höchste Defektabdeckung

TestKompress unterstützt alle traditionellen Fehlermodelle, die zur Aufdeckung sowohl statischer als auch dynamisch aktivierter Fehler verwendet werden. Durch die Unterstützung benutzerdefinierter Fehlermodelle kann auch praktisch jeder Fehlermechanismus modelliert und gezielt angegangen werden.

Vollständig automatisiert

TestKompress bietet umfassende Automatisierungs-, TCL-basiertes Scripting- und Introspektionsfunktionen. Um den Durchsatz zu maximieren, kann die automatische Testmustergenerierung (ATPG) auf mehrere Prozessoren verteilt werden.

Niedrigere Testzeit und Musteranzahl

Basierend auf der patentierten Embedded Deterministic Test (EDT) -Technologie Tessent TestKompress reduziert sowohl die Testzeit als auch das Mustervolumen um mehrere Größenordnungen, ohne dass die Fehlerabdeckung darunter leidet.

Fragen Sie einen Experten - Mann und Frau lassen sich in einem Büro beraten.

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