Tessent MemoryBist bietet eine Komplettlösung für schnelles Testen, Diagnostizieren, Reparieren, Debuggen und Charakterisieren eingebetteter Speicher. Durch die Nutzung einer flexiblen hierarchischen Architektur können integrierte Selbsttests und Selbstreparaturen sowohl in einzelne Kerne als auch auf oberster Ebene integriert werden.
Tessent MemoryBist, ein branchenführender integrierter Speicher-Selbsttest, beinhaltet einen einzigartig umfassenden Automatisierungsablauf, der die Überprüfung von Entwurfsregeln, Testplanung, Integration und Verifizierung auf RTL- oder Gate-Ebene ermöglicht.
Tessent MemoryBist ECC erhöht die Zuverlässigkeit, verbessert die Testqualität und schützt vor Alterungsfehlern. Seine anpassbaren Pass/Fail-Kriterien ermöglichen eine optimale Kombination aus Speicherredundanz und Fehlerkorrekturcode.
Tessent MemoryBist NVM bietet flexibles Testen und Reparieren, senkt die Kosten für Herstellungstests und erhöht die Zuverlässigkeit. Automatisierte NVM-spezifische Algorithmen ermöglichen spezielle Zugriffsmodi und arbeiten mit der ECC-Option. Verfügbar. Anfang 26
Das erweiterte BAP bietet eine konfigurierbare Schnittstelle zur Optimierung der systeminternen Tests. Es unterstützt auch ein Protokoll mit niedriger Latenz zur Konfiguration des Speicher-BIST-Controllers, zur Ausführung von Go/NoGo-Tests und zur Überwachung des Pass/Fail-Status.
Speichertest-Algorithmen können fest in den Tessent MemoryBIST MemoryBist-Controller einprogrammiert und dann über die Laufzeitsteuerung auf jeden Speicher angewendet werden. Auf diese Weise können Sie kürzere Testalgorithmen auswählen, wenn der Herstellungsprozess reift.
Die Tessent MemoryBIST MemoryBist-Reparaturoption beseitigt die Komplexität und die Kosten, die mit externen Reparaturabläufen verbunden sind. Es testet und repariert dauerhaft alle defekten Speicher in einem Chip und nutzt praktisch keine externen Ressourcen.
Sehen Sie, wie Etienne Racine, Produktmanager bei Tessent, darüber spricht, wie Tessent MemoryBist mit seiner flexiblen Architektur dazu beitragen kann, die Testqualität zu maximieren, die Testzeit zu minimieren, den Ertrag zu erhöhen und Speicher zu reparieren.
Erfahren Sie, wie Sie mit der Software von Tessent neue Standards und Vorschriften einhalten und gleichzeitig ein komplettes Komplettpaket an Lösungen anbieten können, um den Anforderungen der heutigen IC-Entwicklungen in der Automobilindustrie gerecht zu werden.
In diesem Artikel werden die Vorteile der Verwendung einer gemeinsamen Busarchitektur zum Testen und Reparieren von Speichern innerhalb von IP-Kernen beschrieben und die in Tessent MemoryBist verfügbare Automatisierung vorgestellt.
Diese Fallstudie beschreibt, wie ON Semiconductor den hierarchischen MemoryBist-Flow von Tessent verwendet hat, um die Einfügezeit für Speicher-BIST um das Sechsfache zu reduzieren.
