Warum Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist lässt sich effizient in Tessent MissionMode und Tessent TestKompress integrieren, um eine komplette System- und Fertigungstestlösung für sicherheitskritische Geräte zu schaffen.
Verbessert die Testabdeckung
Die Tessent VersaPoint-Testpunkttechnologie wurde für hybride TK/LBIST-Anwendungen entwickelt und verbessert gleichzeitig die ATPG-Musteranzahl und die Logik-BIST-Testbarkeit, wodurch die LBIST-Abdeckung um 2%-4% verbessert wird.
Erfüllt die systeminterne Testzeit
Durch die Beobachtung der Schaltkreisdaten bei jedem Schichtzyklus, nicht nur während der Erfassung, reduziert die Observation Scan Technology (OST) die Anzahl der Muster, die erforderlich sind, um die BIST-Testabdeckung der Ziellogik zu erreichen, erheblich.
Steigert die Testeffizienz
Tessent Hybrid TK/LBIST kombiniert effizient die Logikarchitektur von Tessent TestKompress und LogicBIST, um die Testqualität zu verbessern und gleichzeitig Bereichseinbußen zu vermeiden, wodurch die Vorteile sowohl der ATPG-Komprimierung als auch der Logik-BIST genutzt werden.
Infineon reduziert die LBIST-Testzeit auf funktionale Sicherheit
In dieser Präsentation zeigt Daniel Tille von Infineon die Verwendung von LogicBIST mit der Observation Scan Technology, die nachweislich die Testzeit für Logic Built-in Selftest (LBIST) für Infineon Automotive-Mikrocontroller (MCUs) drastisch reduziert.
