Kontinuierliches Testen und Überwachen der Geräte ist erforderlich, um optimale Leistung, Zuverlässigkeit und Sicherheit während ihres gesamten Betriebs zu gewährleisten. Tessent In-System Test ermöglicht die Anwendung hochwertiger deterministischer Testmuster für Tests im System und im Feld während des Lebenszyklus Ihres Chips.
Tessent In-System Test bietet die eingebettete Hardware und die notwendige Software, um die Anwendung hochwertiger deterministischer Testmuster zu ermöglichen und gleichzeitig die Testzeit im Vergleich zu herkömmlichen Logik-BIST zu reduzieren.
Der systeminterne deterministische Test ermöglicht es Ihnen, Testmuster zu ändern, wenn neue Fehler und Fehlermodelle auftauchen oder wenn sich die Anforderungen an den Testinhalt ändern.
Der systeminterne Testcontroller ruft Daten von den Busschnittstellen ab und steuert das Streaming Scan Network-Bus-Netzwerk intern an, um Scan-Datenpakete zu Testzwecken auf die Kerne anzuwenden, wodurch die Testzeit verkürzt und das Leistungsprofil während des Tests verbessert wird.
Nutzt die vorhandene On-Chip-Testinfrastruktur wieder, um latente, intermittierende, zufällige oder altersbedingte Defekte während der Lebensdauer des Produkts zu erkennen, indem die Wiederverwendung von IJTAG- und SSN-basierten Mustern für systeminterne Anwendungen ermöglicht wird.
Bietet vollautomatische Hardware- und Softwarefunktionen, die erforderlich sind, um auf Alterungs- und Umweltfaktoren zu reagieren, die sich in Form von Silent Data Errors/Korruption äußern. Der Testinhalt kann geändert werden, wenn sich die Testanforderungen weiterentwickeln.
Der auf der ITC 2024 eingeführte Tessent In-System Test (IST) ergänzt das Tessent Streaming Scan Network (SSN) und verbessert dessen Einsatzfähigkeit in einer systeminternen Umgebung vor Ort, wodurch die fortschrittliche Technologie, die Tessent SSN bietet, erweitert wird. Designer können eingebettete deterministische Testmuster (EDT), die mit der Tessent SSN-Software generiert wurden, direkt über den SSN-Bus mithilfe des systeminternen Testcontrollers anwenden.
Tessent In-System Test integriert den systeminternen deterministischen Test (IS-EDT) mit dem Tessent Streaming Scan Network, sodass Benutzer deterministische Muster systemintern ausführen können. Während die Nachfrage nach IS-EDT-Mustern in der Automobilindustrie von entscheidender Bedeutung ist, kommt diese Technologie auch Rechenzentrums- und Netzwerkdesigns zugute. In diesem Artikel wird beschrieben, wie Tessent In-System Test die Anforderungen an System- und Feldtests erfüllt.
Erfahren Sie, wie Sie mit der Software von Tessent neue Standards und Vorschriften einhalten und gleichzeitig ein komplettes Komplettpaket an Lösungen anbieten können, um den Anforderungen der heutigen IC-Entwicklungen in der Automobilindustrie gerecht zu werden.
Erfahren Sie in diesem Whitepaper mehr über die wachsende Rolle von Designinnovationen für integrierte Schaltungen (IC) bei der digitalen Transformation.
