Tessent In-System Test bietet die eingebettete Hardware und die notwendige Software, um die Anwendung hochwertiger deterministischer Testmuster zu ermöglichen und gleichzeitig die Testzeit im Vergleich zu herkömmlichen Logik-BIST zu reduzieren.
Der systeminterne deterministische Test ermöglicht es Ihnen, Testmuster zu ändern, wenn neue Fehler und Fehlermodelle auftauchen oder wenn sich die Anforderungen an den Testinhalt ändern.
Der systeminterne Testcontroller ruft Daten von den Busschnittstellen ab und steuert das Streaming Scan Network-Bus-Netzwerk intern an, um Scan-Datenpakete zu Testzwecken auf die Kerne anzuwenden, wodurch die Testzeit verkürzt und das Leistungsprofil während des Tests verbessert wird.
Nutzt die vorhandene On-Chip-Testinfrastruktur wieder, um latente, intermittierende, zufällige oder altersbedingte Defekte während der Lebensdauer des Produkts zu erkennen, indem die Wiederverwendung von IJTAG- und SSN-basierten Mustern für systeminterne Anwendungen ermöglicht wird.
Bietet vollautomatische Hardware- und Softwarefunktionen, die erforderlich sind, um auf Alterungs- und Umweltfaktoren zu reagieren, die sich in Form von Silent Data Errors/Korruption äußern. Der Testinhalt kann geändert werden, wenn sich die Testanforderungen weiterentwickeln.
Identifizieren Sie Defekte während der gesamten Betriebsdauer eines Geräts. Stellen Sie vom Wafer bis zum Feld eine Null-Fehler-Qualität und kontinuierliche Zuverlässigkeit sicher. Tessent In-System Test bietet eine umfassende, skalierbare und flexible Lösung für die Qualität des gesamten Lebenszyklus mit HSIO-basierter Testbereitstellung und fortschrittlichen Fehlermodellen.
Der auf der ITC 2024 eingeführte Tessent In-System Test (IST) ergänzt das Tessent Streaming Scan Network (SSN) und verbessert dessen Einsatzfähigkeit in einer systeminternen Umgebung vor Ort, wodurch die fortschrittliche Technologie, die Tessent SSN bietet, erweitert wird. Designer können eingebettete deterministische Testmuster (EDT), die mit der Tessent SSN-Software generiert wurden, direkt über den SSN-Bus mithilfe des systeminternen Testcontrollers anwenden.
Tessent In-System Test integriert den systeminternen deterministischen Test (IS-EDT) mit dem Tessent Streaming Scan Network, sodass Benutzer deterministische Muster systemintern ausführen können. Während die Nachfrage nach IS-EDT-Mustern in der Automobilindustrie von entscheidender Bedeutung ist, kommt diese Technologie auch Rechenzentrums- und Netzwerkdesigns zugute. In diesem Artikel wird beschrieben, wie Tessent In-System Test die Anforderungen an System- und Feldtests erfüllt.
