Produkte von Tessent

Tessent AnalogTest reduziert die Entwicklung und Überprüfung von analogen Testmustern von Monaten auf technische Stunden. Es ist der effektivste Weg, die Fehlerabdeckung zu maximieren und gleichzeitig die Testkosten zu senken.

Tessent In-System Test bietet die eingebettete Hardware und die notwendige Software, um die Anwendung hochwertiger deterministischer Testmuster zu ermöglichen und gleichzeitig die Testzeit im Vergleich zu herkömmlichen Logik-BIST zu reduzieren.

Liefern Sie deterministische Scan-Tests von höchster Qualität mit den niedrigsten Herstellungstestkosten, indem Sie die patentierte On-Chip-Komprimierung verwenden, um das Testdatenvolumen zu reduzieren und die Testzeit zu verkürzen.

Automatisieren Sie die Generierung und das Einfügen von IEEE 1838-konformer Hardware und definieren Sie die IEEE-Testzugriffsarchitektur für gestapelte integrierte 3D-Schaltungen.

Reduzieren Sie die DFT-Entwicklungszeit und die Kosten für Herstellungstests, indem Sie die DFT-Anforderungen auf Kern- und Chip-Ebene mit dem Tessent Streaming Scan Network (SSN) entkoppeln.

Ermöglichen Sie die umfassende Automatisierung und Integration von Test, Reparatur, Debug und Charakterisierung eingebetteter Speicher mit Tessent MemoryBist.

Ermöglichen Sie die ISO-26262-Konformität mit der idealen integrierten Logik-Selbsttestlösung für sicherheitskritische Geräte wie ICs, die in Automobil- und medizinischen Anwendungen verwendet werden.

Kombinieren Sie Automatisierung und On-Chip-IP, um IC-Tests und Diagnosen zu jedem Zeitpunkt während des Funktionsbetriebs eines Fahrzeugs zu ermöglichen — eine grundlegende Anforderung der Norm ISO 26262.

Reduzieren Sie den Aufwand für die DFT-Implementierung mit einer optimalen Automatisierung des Tessent-Plattformablaufs für hierarchische DFT.

Verbessern Sie die Testkomprimierungsstufen um das Vierfache, aktivieren Sie hierarchisches DFT, logische BIST-Bereitschaft und Scaneinfügung mit Tessent ScanPro.

Optimieren Sie eine Vielzahl kritischer DFT-Aufgaben mit dieser neuen Software, die für IC-Designteams entwickelt wurde.

Vereinfachen Sie den Prozess der Generierung kompakter Testsätze mit hoher Reichweite. Die Fähigkeit von Tessent FastScan, auf fast jede Art von Design angewendet zu werden, macht es zur vielseitigsten ATPG-Lösung auf dem Markt.

Bieten Sie Automatisierung und Integration für IEEE 1687 IJTAG-konforme Test- und Instrumentierungs-IP aus verschiedenen Quellen in ein IC-Design an.

Automatisieren Sie das Hinzufügen der IEEE 1149.1-Standard-Boundary-Scan-Unterstützung für ICs jeder Größe oder Komplexität, wodurch der Entwicklungsaufwand reduziert und die Markteinführungszeit verkürzt wird.

Simulieren Sie Defekte auf Transistorebene für analoge, Mixed-Signal- und Non-Scan-Digitalschaltungen und automatisieren Sie die Abdeckungsbewertung, um Qualitätsstandards wie ISO 26262 einzuhalten.

Tessent IJTAG Pro reduziert die Testkosten drastisch, indem es das Laden/Entladen von IJTAG-Mustern beschleunigt, was für Chiplets und 2,5/3DIC-Designs unerlässlich ist und über Tessent SSN auf andere Testanwendungen anwendbar ist. Es verbessert IJTAG.

Wenden Sie layout- und zellenorientierte Diagnosetechnologien an, um Fehler, die zu Ausfällen bei Herstellungstests führen, genau zu klassifizieren und zu identifizieren.

Beschleunigen Sie die Testbereitstellung, das Debuggen und die Silizium-Charakterisierung von Geräten, die Tessent ATPG-, EDT-, BIST- und/oder IJTAG-Teststrukturen enthalten, in einer automatisierten interaktiven Umgebung.

Eliminieren Sie Störgeräusche aus den Diagnosedaten, um die zugrunde liegenden Ursachen zu ermitteln, systematische Ertragsbegrenzer zu identifizieren und die besten Geräte für die Fehleranalyse auszuwählen.

Umfassende RISC-V-Debug- und Trace-Lösung, bestehend aus eingebetteter IP und Software, die für umfassende, effiziente Debugging- und Trace-Funktionen entwickelt wurde.

Umfassende Funktionsüberwachungslösung zur Sichtbarkeit des komplexen SoC-Verhaltens, bestehend aus konfigurierbaren IPs, C++/Python-APIs und einem Tool zur Subsystemgenerierung, das das Debuggen, Validieren und Optimieren komplexer SoCs beschleunigen kann

Erlauben Sie Anwendungssoftware, die auf einem SoC läuft, den Betrieb effektiv zu überwachen. Ermöglichen Sie die sukzessive Verfeinerung und Optimierung von Produkten auf der Grundlage von Daten, die im realen Gebrauch gesammelt wurden — nicht nur im Labor.

Stellen Sie mit den Lösungen von Tessent die höchste Qualität der Herstellungstests sicher. Maximieren Sie die Anzahl der erkannten physischen Defekte in Ihrer Null-Fehler-Testlösung.

Reduzieren Sie Risiken und erfüllen Sie die erforderlichen Sicherheitsstandards mit umfassenden systeminternen Test- und Fehlerbewertungslösungen, die sicherstellen, dass Ihr Produkt den sicherheitskritischen Anwendungen, für die es entwickelt wurde, vollständig entspricht.

Implementieren Sie eine umfassende Sicherheitslösung für Ihr IC-Produkt, die Authentifizierung, Kommunikation, Schutz und Gerätelebenszyklusmanagement in den Bereichen Test, Funktionsbetrieb und Sicherheit auf Systemebene umfasst.

Diagnostizieren und analysieren Sie Ausfall- und Ertragsdaten einzelner Kundenrücksendungen oder Daten zur Serienproduktion. Holen Sie sich wertvolles Design- und Prozessfeedback, um die Zuverlässigkeit zukünftiger Prozesse und Designs zu verbessern.