Veranstaltungen von Tessent

Erfahren Sie, wie digitale Scan-Tests und ATPG auf A/MS-Schaltungen angewendet werden können, um eine hohe Defektabdeckung zu erreichen und die Testzeit um Größenordnungen zu minimieren.

Entdecken Sie, wie eingebettete Software, die auf Zielsilizium läuft, eine hervorragende Alternative zur Extraktion von mehr Erkenntnissen aus On-Chip-Monitoren und Debug-Strukturen für Analysen und Optimierungen sein kann.

In diesem Webinar wird das Tessent Streaming Scan Network (SSN) vorgestellt, eine DFT-Lösung, die die DFT-Planung und -Implementierung durch Automatisierung und Plug-and-Play-Methoden erheblich vereinfacht und beschleunigt, um eine schnelle Markteinführung zu ermöglichen.

Peter Shields, Produktmanager, Tessent, bietet einen Experteneinblick über den RISC-V-Trace-Standard und zeigt, wie die Implementierung des Standards dazu beiträgt, die Risiken der Einführung von RISC-V zu reduzieren.

Verpassen Sie nicht dieses Webinar, in dem die neue Tessent Multi-Die-Software vorgestellt und demonstriert wird, die eine umfassende Automatisierung der hochkomplexen DFT-Aufgaben im Zusammenhang mit den neuesten 2,5D- und 3D-IC-Designs bietet.

Erfahren Sie, wie Sie sich den Herausforderungen stellen können, die sicherheitskritische ADAS-Systeme für Halbleiterdesigner mit sich bringen, wenn es darum geht, die Anforderungen der Norm ISO 26262 an die funktionale Sicherheit zu erfüllen.

Nehmen Sie an diesem Webinar teil, um zu erfahren, wie Tessent SiliconInsight die Herausforderungen bei der Herstellung von Silizium löst, um den Ertrag zu erhöhen und die Markteinführungszeit zu verkürzen.

Sehen Sie sich dieses On-Demand-Webinar der Technologen von Siemens und PDF Solutions an, um mehr über unsere integrierte, umfassende Komplettlösung zu erfahren, die Analytik, Scan-Diagnose und maschinelles Lernen umfasst.

Neue Methoden und Tools für SoC-DFT können die Probleme vereinfachen, die durch Technologie, Design und Systemskalierung entstehen. Erfahren Sie, wie Sie mit einer vorhersehbareren und zuverlässigeren DFT-Lösung Risiken reduzieren und die Markteinführungszeit verkürzen können.

Sehen Sie sich jederzeit dieses Webinar zum Thema Effektive Bewältigung der Herausforderung der Sicherung vernetzter und autonomer Fahrzeuge an.

Schauen Sie rein, um zu hören, wie führende Experten auf diesem Gebiet über technische Herausforderungen bei der Entwicklung von KI-Chips sprechen. Gajinder Panesar, Siemens-Stipendiat, spricht über den Wert von Embedded Analytics, um KI- und ML-Chips dabei zu helfen, ihr Potenzial auszuschöpfen.

Optimieren Sie die SoC-Leistung und führen Sie vorausschauende Wartungsarbeiten vor Ort durch. Ein umfassender Datenüberwachungsansatz bietet radikale Verbesserungen in Bezug auf die Zeit bis zur Umsatzgenerierung, Produktqualität, Zuverlässigkeit und Sicherheit sowie Rentabilität.

Sehen Sie sich dieses On-Demand-Webinar an, um mehr über die umkehrbare Scan-Chain-Technologie zu erfahren und wie sie die diagnostische Auflösung in einer industriellen Fallstudie um das Vierfache verbessert hat.