
Calibre EUV
Umfassender Support zur Bewältigung der einzigartigen Herausforderungen von EUV mit hoher NA, wie z. B. anamorphotische Optik und Masken-3D-Modellierung zur Berücksichtigung von Schatteneffekten.
Die unersättliche Nachfrage nach integrierten Schaltungen (ICs) sorgt weiterhin für kleinere kritische Abmessungen. Fotolithografieprozesse, einschließlich extremer Ultraviolett (EUV), sorgen für immer mehr Komplexität und Datenvolumen. Unsere Lösungen für rechnergestützte Lithografie ermöglichen eine kostengünstige Technologieunterstützung.
Sowohl die lithografischen Herausforderungen als auch die Rechenkomplexität, die mit fortschrittlichen Prozessknoten verbunden ist, erfordern erweiterte Fähigkeiten in der Software und Hardware für die rechnergestützte Lithografie. Die Calibre-Lösung bietet erstklassige Genauigkeit, Geschwindigkeit und Betriebskosten.

Dichte optische Nähe und Prozesskorrektur, um eine Fertigung im Submikronbereich zu ermöglichen.
Fügt Unterauflösungsunterstützungsfunktionen (SRAFs) in ein Design ein.
Leistungsstarke Full-Chip-Simulation und lithographische Analyse.

Die GUI wurde verwendet, um eine Vielzahl von Anwendungen zu starten und Ergebnisse anzuzeigen.

Hochgradig skalierbares Kalibrationsmodul für optische Modelle, Resist- und Ätzmodelle.
Schnelle, inverse pixelbasierte optische Näherungskorrektur.
Einfach zu bedienende GUI zur Optimierung der Beleuchtungsquelle.