Innovative kontextsensitive SPICE-Simulation verbessert die Analyse elektrostatischer Entladungen für große Designs
Angesichts der zunehmenden Komplexität, der Zunahme der Transistorzahl und der schrumpfenden Abmessungen von ICs erweist sich die ESD-Verifizierung bei fortgeschrittenen Knoten als große Herausforderung. Bei der herkömmlichen ESD-Verifizierung mit parasitärer Extraktion und anschließender Simulation mit SPICE-Simulation (Integrated Circuit Emphase) fällt es schwer, das dynamische Verhalten der Schaltungen in großen Designs genau zu modellieren und Simulationsergebnisse in praktischen Laufzeiten auf der Ebene großer Blöcke oder ganzer Chips bereitzustellen. Die kontextsensitive SPICE-Simulation von Calibre PERC vereint das Beste aus den statischen und dynamischen Ansätzen, kombiniert das physische Layout einer Komponente mit ihrer elektrischen Implementierung und analysiert diese Informationen, um die ESD-Robustheit zu bewerten. Dieser kontextsensitive SPICE-Simulationsablauf ermöglicht es Designern, genaue ESD-Analysen für die größten Designs an jedem Prozessknoten durchzuführen.
