Skip to main content
K zobrazení této stránky byl použit automatický překlad. Chcete ji raději zobrazit v angličtině?
boční pohled na čip na palubě s modrým pozadím
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Dosáhněte nejkvalitnějšího vestavěného deterministického skenovacího testu s nejnižšími náklady na výrobní test pomocí Tessent TestKompress.

Proč Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, špičkový testovací nástroj pro skenování, používá technologii Embedded Deterministic Test k dosažení nejvyšší úrovně kvality testu při komprimaci vzorů skenování často 100x nebo více.

Nejvyšší pokrytí defektů

TestKompress podporuje všechny tradiční modely poruch používané k odhalování statických i dynamicky aktivovaných defektů. Podpora uživatelsky definovaných modelů poruch také umožňuje modelovat a zacílit prakticky jakýkoli defektní mechanismus.

Plně automatizované

TestKompress nabízí komplexní automatizaci, skriptování založené na TCL a možnosti introspekce. Pro maximalizaci propustnosti lze automatické generování testovacích vzorů (ATPG) distribuovat mezi více procesory.

Nižší doba testování a počet vzorů

Postaveno na patentované technologii Embedded Deterministic Test (EDT) Tessent TestKompress zkracuje zkušební dobu i objem vzorku o několik řádů bez ztráty pokrytí poruch.

Zeptejte se odborníka - Muž a žena mají konzultaci v kanceláři.

Jste připraveni dozvědět se více o Tessentu?

Jsme připraveni odpovědět na vaše otázky.

Další informace