Skip to main content
K zobrazení této stránky byl použit automatický překlad. Chcete ji raději zobrazit v angličtině?
boční pohled na čip na palubě s modrým pozadím
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Dosáhněte nejvyšší kvality vestavěného deterministického skenovacího testu s nejnižšími náklady na výrobu pomocí Tessent TestKompress.

Proč Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, špičkový nástroj pro testování skenování, používá technologii Embedded Deterministic Test k dosažení nejvyšší úrovně kvality testu při kompresi vzorů skenování často 100x nebo více.

Nejvyšší pokrytí defektů

TestKompress podporuje všechny tradiční modely poruch používané k odhalování statických i dynamicky aktivovaných defektů. Podpora uživatelsky definovaných modelů poruch také umožňuje modelovat a zacílit prakticky jakýkoli defektní mechanismus.

Plně automatizované

TestKompress nabízí komplexní automatizaci, skriptování založené na TCL a možnosti introspekce. Pro maximalizaci propustnosti lze automatické generování testovacích vzorů (ATPG) distribuovat mezi více procesory.

Nižší doba testování a počet vzorů

Tessent TestKompress, postavený na patentované technologii Embedded Deterministic Test (EDT), zkracuje dobu testování i objem vzorku o několik řádů bez ztráty pokrytí poruch.

Zeptejte se odborníka - Muž a žena mají konzultaci v kanceláři.

Jste připraveni dozvědět se více o Tessentu?

Jsme připraveni odpovědět na vaše otázky.

Dozvědět se více