Skip to main content
K zobrazení této stránky byl použit automatický překlad. Chcete ji raději zobrazit v angličtině?
Chodba v datovém centru představující datové servery za skleněnými dveřmi.
Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

Pro zajištění optimálního výkonu, spolehlivosti a bezpečnosti po celou dobu jejich provozu je nutné průběžné testování a monitorování zařízení. Tessent In-System Test umožňuje aplikaci vysoce kvalitních deterministických testovacích vzorů pro testování v systému/v terénu během životního cyklu vašeho čipu.

Proč používat Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test poskytuje vestavěný hardware a potřebný software umožňující aplikaci vysoce kvalitních deterministických testovacích vzorů při současném zkrácení doby testování ve srovnání s tradiční logikou BIST.

Umožňuje adaptivní test

Deterministický test v systému umožňuje měnit vzorce testů, jakmile se objeví nové vady a modely poruch nebo podle potřeby obsahu testu.

Pracuje s Tessent SSN

Testovací řadič v systému načítá data ze sběrnicových rozhraní a interně řídí síť sběrnice Streaming Scan Network, aby aplikoval pakety skenovacích dat na jádra pro testování, čímž snižuje testovací dobu a zlepšuje výkonový profil během testu.

Opakovaně používá testovací vzorce

Opakovaně používá stávající testovací infrastrukturu na čipu k cílení latentních, přerušovaných, náhodných nebo souvisejících defektů během životnosti produktu tím, že umožňuje opětovné použití vzorů založených na IJTAG a SSN pro aplikace v systému.

Reaguje na chyby tichých dat

Poskytuje plně automatizované hardwarové a softwarové funkce potřebné k reakci na stárnutí a faktory prostředí, které se projevují jako chyby tichých dat/poškození. Obsah testu lze měnit, jak se vyvíjejí požadavky na testování.

Povolení vysoce kvalitních deterministických testovacích vzorů

Tessent In-System Test (IST), který byl spuštěn na ITC 2024, doplňuje Tessent Streaming Scan Network (SSN) a zvyšuje jeho schopnost používat v prostředí v systému, v terénu, čímž rozšiřuje pokročilou technologii, kterou poskytuje Tessent SSN. Návrháři mohou aplikovat vzory vestavěných deterministických testů (EDT) generované pomocí softwaru Tessent SSN prostřednictvím sběrnice SSN přímo pomocí systémového testovacího řadiče.

Použití vysoce kvalitních deterministických testovacích vzorů

Tessent In-System Test integruje in-system deterministický test (IS-EDT) s Tessent Streaming Scan Network, aby uživatelům umožnil spouštět deterministické vzory v systému. Zatímco poptávka po vzorcích IS-EDT je v automobilovém průmyslu zásadní, tato technologie také prospívá návrhům datových center a sítí. Tento článek popisuje, jak Tessent In-System Test splňuje potřeby testování v systému a v terénu.

zářící mikročip
datové centrum

Podívejte se na webinář IST

Podívejte se na webinář na vyžádání Zlepšení kvality testů v systému pomocí Deterministického testu v systému.

Dozvědět se více