Tessent DefectSim je simulátor defektů na úrovni tranzistoru pro analogové, smíšené signály (AMS) a neskenované digitální obvody. Měří pokrytí vad a toleranci defektů a je ideální pro vysokoobjemové i vysoce spolehlivé integrované obvody.
Zlepšete bezpečnost AMS, kvalitu testu a čas. Tessent DefectSim nahrazuje manuální hodnocení pokrytí testů v obvodech AMS, generuje objektivní data pro vedení zlepšení potřebných ke splnění standardů kvality a funkční bezpečnosti a cílů pokrytí testů.
DefectSIM, postavený na technikách vstřikování defektů na úrovni tranzistoru používaných v testKompress Cell-Aware ATPG pro skenovatelné digitální obvody, je vhodný pro průmyslové obvodové bloky obsahující stovky nebo tisíce tranzistorů.
Vygenerujte souhrn se seznamem pokrytí defektů váženého pravděpodobností, intervalu spolehlivosti a matice se seznamem každé vady a toho, zda byla detekována limitem selhání testu nebo digitálním výstupem.
Výrazně zkraťte celkový čas simulace ve srovnání se simulací produkčních testů a plochých rozvržení netlistů v klasickém SPICE na paralelních procesorech.
Vyhodnotili jsme Tessent DefectSim na několika automobilových integrovaných obvodech a dospěl k závěru, že se jedná o vysoce automatizované a flexibilní řešení, které řídí vylepšení v testovacích a návrhových technikách a umožňuje nám měřitelně zlepšit pokrytí defektů analogových testů.
Ponořte se do role analogové simulace poruch funkční bezpečnosti automobilů a prozkoumejte výzvy, aplikace, výhody a dopad analogové simulace poruch na konstrukci čipů a soulad s bezpečnostními normami.
