Výrobky Tessent

Tessent AnalogTest snižuje vývoj a ověřování analogových testovacích vzorů z inženýrských měsíců na technické hodiny. Je to nejúčinnější způsob, jak maximalizovat pokrytí závad při současném snížení nákladů na testování.

Tessent In-System Test poskytuje vestavěný hardware a potřebný software umožňující aplikaci vysoce kvalitních deterministických testovacích vzorů při současném zkrácení doby testování ve srovnání s tradiční logikou BIST.

Poskytněte deterministický skenovací test nejvyšší kvality s nejnižšími náklady na výrobní test pomocí patentované komprese na čipu ke snížení objemu testovacích dat a zkrácení doby testování.

Automatizujte generování a vkládání hardwaru vyhovujícího standardu IEEE 1838 a definujte architekturu testovacího přístupu IEEE pro 3D skládané integrované obvody.

Snižte dobu vývoje DFT a náklady na výrobní testy oddělením požadavků na DFT na úrovni jádra a na úrovni čipu pomocí sítě Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Umožněte komplexní automatizaci a integraci testování, oprav, ladění a charakterizace vložených pamětí pomocí Tessent MemoryBist.

Zajistěte shodu s normou ISO 26262 pomocí ideálního logického řešení pro vlastní testování kritických bezpečnostních zařízení, jako jsou integrované obvody používané v automobilových a lékařských aplikacích.

Kombinace automatizace a IP na čipu umožňuje testování a diagnostiku IC kdykoli během funkčního provozu vozidla — základní požadavek normy ISO 26262.

Snižte úsilí o implementaci DFT pomocí optimální automatizace toku Tessent Platform pro hierarchické DFT.

Vylepšete úrovně komprese testů až 4×, umožněte hierarchickou DFT, logickou připravenost BIST a vložení skenování pomocí Tessent ScanPro.

Zjednodušte širokou škálu kritických úloh DFT pomocí tohoto nového softwaru vyvinutého pro týmy návrhářů integrovaných obvodů.

Zjednodušte proces generování kompaktních testovacích sad s vysokým pokrytím. Schopnost Tessent FastScan aplikovat na většinu jakéhokoli typu designu z něj činí nejuniverzálnější dostupné řešení ATPG.

Zajistěte automatizaci a integraci pro testování a instrumentaci IP kompatibilní s IEEE 1687 IJTAG z různých zdrojů do návrhu IC.

Automatizujte přidávání podpory standardního skenování hranic IEEE 1149.1 do integrovaných obvodů jakékoli velikosti nebo složitosti, čímž snižujete úsilí o vývoj a zkraťte dobu uvedení na trh.

Simulujte defekty na úrovni tranzistoru pro analogové, smíšené signály a neskenované digitální obvody a automatizujte hodnocení pokrytí, abyste pomohli splnit standardy kvality, jako je ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro drasticky snižuje náklady na testování zrychlením načítání/vykládání vzorů IJTAG, což je zásadní pro čiplety, konstrukce 2,5/3DIC a použitelné pro jiné testovací aplikace prostřednictvím Tessent SSN. Vylepšuje IJTAG.

Aplikujte diagnostické technologie založené na rozvržení a buňce k přesné klasifikaci a identifikaci umístění vad způsobujících poruchy během výrobních testů.

Urychlete testování, ladění a křemíkovou charakterizaci zařízení obsahujících testovací struktury Tessent ATPG, EDT, BIST a/nebo IJTAG v automatizovaném interaktivním prostředí.

Odstraňte hluk z diagnostických dat a určete základní příčiny, identifikujte systematické omezovače výtěžku a vyberte nejlepší zařízení pro analýzu poruch.

Koncové řešení ladění a sledování RISC-V sestávající z integrované IP adresy a softwaru navrženého tak, aby poskytoval komplexní a efektivní možnosti ladění a sledování.

Komplexní funkční monitorovací řešení pro viditelnost komplexního chování SoC, zahrnující konfigurovatelné IP adresy, C++/Python API a nástroj pro generování subsystému, který může urychlit ladění, validaci a optimalizaci komplexních SoC

Umožněte aplikačnímu softwaru běžícímu na SoC efektivně monitorovat operace. Umožněte postupné vylepšování a optimalizaci produktů na základě dat shromážděných v reálném životě — nejen v laboratoři.

Zajistěte nejvyšší kvalitu výrobních testů s řešeními Tessent. Maximalizujte počet zjištěných fyzických vad ve vašem řešení pro testování nulové vady.

Snižte rizika a splňujte požadované bezpečnostní normy díky komplexním systémovým řešením testování a třídění poruch, která zajistí, že váš produkt je plně kompatibilní s bezpečnostně kritickými aplikacemi, pro které je navržen.

Implementujte komplexní řešení zabezpečení pro váš produkt IC, které řeší autentizaci, komunikaci, ochranu a správu životního cyklu zařízení napříč testováním, funkčním provozem a zabezpečením na úrovni systému.

Diagnostikujte a analyzujte údaje o poruchách a výnosech jednotlivých zákazníků nebo objemových výrobních datech. Získejte cennou zpětnou vazbu k návrhu a procesu, abyste zvýšili spolehlivost budoucích procesů a návrhů.