
Calibre EUV
Komplexní podpora řešení jedinečných výzev EUV s vysokým obsahem NA, jako je anamorfní optika a maskování 3D modelování za účelem zohlednění efektů stínování.
Neukojitelná poptávka po integrovaných obvodech (IC) nadále řídí menší kritické rozměry. Fotolitografické procesy, včetně extrémního ultrafialového záření (EUV), představují stále větší složitost a objem dat. Naše řešení pro výpočetní litografii umožňují nákladově efektivní využití technologií.
Jak litografické výzvy, tak výpočetní složitost spojená s pokročilými procesními uzly vytvářejí potřebu pokročilých schopností v softwaru a hardwaru výpočetní litografie. Řešení Calibre nabízí nejlepší přesnost, rychlost a náklady na vlastnictví ve své třídě.

Hustá optická blízkost a korekce procesu umožňující hlubokou výrobu submikronů.
Vloží pomocné prvky pro dílčí rozlišení (SRAF) do návrhu.
Výkonná celočipová simulace a litografická analýza.

GUI slouží ke spouštění široké škály aplikací a k zobrazení výsledků.

Vysoce škálovatelný kalibrační motor pro optické, odolné a leptané modely.
Rychlá, inverzní pixelová optická korekce přiblížení.
Snadno použitelné GUI pro optimalizaci zdroje osvětlení.