Optimalizace
Společná optimalizace výkonu, výkonu, plochy, nákladů a spolehlivosti napříč křemíkem, obalem, meziposerem a PCB

Integrované řešení balení IC, které pokrývá vše od plánování a prototypování až po podepisování pro různé integrační technologie, jako jsou FCBGA, FOWLP, 2.5/3DIC a další. Naše 3D řešení pro balení IC vám pomohou překonat omezení monolitického škálování.
Polovodičový průmysl učinil za posledních 40 let velký pokrok v technologii ASIC, což vedlo k lepšímu výkonu. Ale jak se Mooreův zákon blíží svým limitům, škálování zařízení je stále těžší. Smršťovací zařízení nyní trvá déle, stojí více a představuje výzvy v oblasti technologií, designu, analýzy a výroby. Tím vstupuje do 3D IC.
3D IC je nové konstrukční paradigma poháněné klesajícími výnosy škálování technologie IC, AKA Mooreův zákon.
Alternativy zahrnují rozdělení systému na čipu (SOC) na menší dílčí funkce nebo komponenty známé jako „chipletky“ nebo „tvrdá IP“ a použití více matric k překonání omezení uložených velikostí mřížky.
Dosaženo přiblížením paměťových komponent k procesorovým jednotkám, čímž se sníží vzdálenost a latence při přístupu k datům. Komponenty lze také skládat svisle, což umožňuje kratší fyzické vzdálenosti mezi nimi.
Heterogenní integrace má několik výhod, včetně schopnosti kombinovat různé procesní a technologické uzly, stejně jako schopnost využít 2,5D/3D montážní platformy.
Naše 3D řešení pro návrh IC podporují architektonické plánování/analýzu, plánování/ověřování fyzického návrhu, elektrickou analýzu a analýzu spolehlivosti a testování/diagnostickou podporu prostřednictvím předání výroby.

Kompletní systém pro heterogenní systémové plánování, nabízející flexibilní tvorbu logiky pro bezproblémové připojení od plánování až po konečný systém LVS. Funkce plánování podlahy podporuje škálování složitých heterogenních návrhů.

Dosáhněte rychlejších časů návrhového cyklu a cesty k páskování pomocí směrovatelnosti návrhu a uzavření PPA během optimalizace umístění. Optimalizace v hierarchii zajišťuje uzavření časování nejvyšší úrovně. Optimalizované konstrukční specifikace poskytují lepší PPA, certifikované pro pokročilé uzly TSMC.

Jedna platforma podporuje pokročilý design SIP, čipů, křemíkových meziposerů, organických a skleněných substrátů, což zkracuje dobu návrhu pomocí pokročilé metodiky opětovného použití IP. Kontrola shody v návrhu pro SI/PI a procesní pravidla eliminuje opakování analýz a podepisování.

Toto řešení ověří netlist sestavení balíčku proti „zlatému“ referenčnímu netlistu, aby byla zajištěna správnost funkce. Využívá automatizovaný pracovní postup s formálním ověřením, kontroluje všechna propojení mezi polovodičovými součástmi během několika minut a zajišťuje vysokou přesnost a účinnost.



Tepelné řešení zahrnující tranzistor až po systémovou úroveň a škálování od včasného plánování až po odhlášení systému, pro podrobnou termickou analýzu na úrovni matrice s přesnými podmínkami balení a okrajových podmínek. Snižte náklady tím, že minimalizujete potřebu testovacích čipů a pomůžete identifikovat problémy se spolehlivostí systému.
.png?auto=format,compress&fit=crop&crop=faces,edges&w=640&h=360&q=60)
knihovny a návrhových dat specifické pro eCAD. Zajišťuje bezpečnost a sledovatelnost dat WIP s výběrem komponent, distribucí knihovny a opětovným použitím modelu. Bezproblémová integrace PLM pro správu životního cyklu produktu, koordinaci výroby, požadavky na nové díly a správu aktiv.

Zvládněte více matricí/čipů prostřednictvím testování na úrovni matrice a na úrovni stohu, které podporují standardy IEEE jako 1838,1687 a 1149.1. Poskytuje plný přístup k matricím v balení, ověření testu destiček a rozšiřuje 2D DFT na 2,5D/3D pomocí sítě Tessent Streaming Scan Network pro bezproblémovou integraci.

Eliminujte čas strávený vývojem a údržbou vlastních funkčních modelů sběrnice (BFM) nebo ověřovacích komponent. Avery Verification IP (VIP) umožňuje systémovým a systémovým týmům (SoC) dosáhnout dramatického zlepšení produktivity ověřování.

Solido Intelligent Custom IC Platform, poháněná patentovanou technologií podporující umělou inteligenci, nabízí špičková řešení pro ověřování obvodů navržená tak, aby řešila výzvy 3D IC, splnila přísné požadavky na signál, výkon a tepelnou integritu a urychlila vývoj.

Zajistěte spolehlivost propojení a odolnost proti ESD pomocí komplexního měření odporu typu point-to-point (P2P) a hustoty proudu (CD) napříč matricí, propojovačem a obalem. Zohlednit rozdíly v metodice procesních uzlů a ESD s robustním propojením mezi ochrannými zařízeními.
Chiplet je navržen s pochopením, že bude spojen s jinými čipety v rámci balíčku. Blízkost a kratší vzdálenost propojení znamená nižší spotřebu energie, ale také to znamená koordinaci většího počtu proměnných, jako je energetická účinnost, šířka pásma, plocha, latence a rozteč.
Společná optimalizace výkonu, výkonu, plochy, nákladů a spolehlivosti napříč křemíkem, obalem, meziposerem a PCB
Poskytněte konstruktérům přístupné technologie, které snižují závislost na odbornících
Škálovatelnost pro správu a komunikaci heterogenních dat napříč celopodnikovými týmy a zachování digitální kontinuity
Eliminujte iterace díky včasnému nahlédnutí do následného výkonu a efektů procesů prostřednictvím nepřetržitého ověřování
Pochopení technologie 3D IC: Odhalení budoucnosti integrovaných obvodů
TISKOVÁ ZPRÁVA: Siemens automatizuje 2,5D a 3D IC design pro testování pomocí nového řešení Tessent Multi die Uvolněte produktivitu návrhu
3D IC a>Oslovte dotazy nebo komentáře. Jsme tu, abychom vám pomohli!