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藍色背景板上芯片的側視圖
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

使用最低的製造測試成本,實現最高品質的嵌入式確定性掃描測試 Tessent TestKompress。

為什麼 Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress這是業界領先的掃描測試工具,使用嵌入式確定性測試技術,在壓縮掃描模式通常 100 倍以上的同時,達到最高水平的測試質量。

最高瑕疵覆蓋範圍

TestKompress 支持所有用於發現靜態和動態激活的缺陷的所有傳統故障模型。支援使用者定義的故障模型也允許幾乎任何瑕疵機制進行模型化和定位。

全自動化

TestKompress 提供全面的自動化,基於 TCL 的腳本和自我檢視功能。為了最大限度地提高輸送量,可將自動測試模式產生 (ATPG) 分佈到多個處理器之間。

縮短測試時間和模式計數

基於專利的嵌入式確定測試 (EDT) 技術, Tessent TestKompress 將測試時間和模式容量減少數個級別,而不會損失任何故障覆蓋範圍。

詢問專家-男女在辦公室進行諮詢。

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